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1. (WO2011149090) INVERTED MICROSCOPE
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2011/149090    International Application No.:    PCT/JP2011/062287
Publication Date: 01.12.2011 International Filing Date: 27.05.2011
IPC:
G02B 21/24 (2006.01)
Applicants: OLYMPUS CORPORATION [JP/JP]; 43-2, Hatagaya 2-chome, Shibuya-ku, Tokyo 1510072 (JP) (For All Designated States Except US).
KITAHARA, Akihiro [JP/JP]; (JP) (For US Only)
Inventors: KITAHARA, Akihiro; (JP)
Agent: SAKAI, Hiroaki; Sakai International Patent Office, Kasumigaseki Building, 2-5, Kasumigaseki 3-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1006020 (JP)
Priority Data:
2010-123440 28.05.2010 JP
Title (EN) INVERTED MICROSCOPE
(FR) MICROSCOPE INVERSÉ
(JA) 倒立顕微鏡
Abstract: front page image
(EN)In order to provide an inverted microscope with excellent rigidity that can also be fitted with optical devices in an observation optical system extending from an objective lens to an eyepiece, an inverted microscope is equipped with a microscope body (1), a stage (2) supported by the microscope body (1), and an observation optical system (3) for observing materials placed on top of the stage (2) from below. The microscope body (1) can be fitted with optical devices (4) between an imaging lens (32) and an objective lens (31) that constitute the observation optical system (3), and has a back wall part (1b) and a front wall part (1c) which support the stage (2), and a bridge part (1d) connecting to both the back wall part (1b) and the front wall part (1c), which form a front and back pair, in an aspect wherein it is positioned between the imaging lens (32) and the objective lens (31).
(FR)L'invention porte sur un microscope inversé à une excellente rigidité, qui peut également être pourvu des dispositifs optiques dans un système optique d'observation s'étendant d'une lentille d'objectif à un oculaire. Un microscope inversé comporte un corps de microscope (1), une platine (2) supportée par le corps de microscope (1), et un système optique d'observation (3) pour observer des matériaux disposés sur la platine (2) à partir du dessous. Le corps de microscope (1) peut comporter des dispositifs optiques (4) entre une lentille de réalisation d'image (32) et une lentille d'objectif (31) qui constituent le système optique d'observation (3), et a une partie de paroi arrière (1b) et une partie de paroi avant (1c) qui supportent la platine (2), et une partie de pont (1d) reliée à la fois à la partie de paroi arrière (1b) et à la partie de paroi avant (1c), qui forment une paire avant et arrière, dans un aspect dans lequel elle est positionnée entre la lentille de réalisation d'image (32) et la lentille d'objectif (31).
(JA) 対物レンズから接眼レンズに至る観察光学系に光学装置を装着可能であって、かつ、剛性に優れた倒立顕微鏡を提供することを目的として、顕微鏡本体1と、顕微鏡本体1に支持されたステージ2と、ステージ2の上に載置された試料を下から観察する観察光学系3とを備えた倒立顕微鏡において、顕微鏡本体1は、観察光学系3を構成する対物レンズ31と結像レンズ32との間に光学装置4を装着可能であって、ステージ2を支持する後壁部1bおよび前壁部1cと、結像レンズ32と対物レンズ31との間に位置する態様で、前後で対となる後壁部1bと前壁部1cとを相互に接続する梁部1dを設けた。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)