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1. (WO2011148143) APPARATUS AND METHOD FOR COMPENSATING FOR SAMPLE MISALIGNMENT
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2011/148143    International Application No.:    PCT/GB2011/000811
Publication Date: 01.12.2011 International Filing Date: 26.05.2011
IPC:
G01N 21/21 (2006.01)
Applicants: NIGHTINGALE-EOS LTD [GB/GB]; Unit 2 Bryn Estyn Business Centre Bryn Estyn Road Wrexham LL13 9TY (GB) (For All Designated States Except US).
MORRIS, Stephen [GB/GB]; (GB) (For US Only)
Inventors: MORRIS, Stephen; (GB)
Agent: COLES, Pamela; Marks & Clerk LLP Alpha Tower Suffolk Street Queensway Birmingham B1 1TT (GB)
Priority Data:
1009039.7 28.05.2010 GB
Title (EN) APPARATUS AND METHOD FOR COMPENSATING FOR SAMPLE MISALIGNMENT
(FR) APPAREIL ET PROCÉDÉ POUR LA COMPENSATION DE MAUVAIS ALIGNEMENT D'ÉCHANTILLONS
Abstract: front page image
(EN)A method of compensating for sample misalignment in an optical measurement apparatus (40), comprises the steps of: determining an expected response from a detector (58) in said optical measurement apparatus given a particular set of parameters defining a path that light can take through the optical measurement apparatus from a source (42), via a sample (50), to the detector (58); measuring a response from the detector for the sample under test; and refining the set of parameters until the expected response and the measured response converge so as to determine the set of parameters giving rise to the measured response.
(FR)La présente invention concerne un procédé de compensation pour le mauvais alignement d'échantillons dans un appareil de mesure optique, comprenant les étapes suivantes: la détermination d'une réponse attendue provenant d'un détecteur dans ledit appareil de mesure optique avec un ensemble particulier de paramètres donné définissant un chemin que peut prendre la lumière à travers l'appareil de mesure optique depuis une source, via un échantillon, jusqu'au détecteur; la mesure d'une réponse provenant du détecteur pour l'échantillon de l'essai; et l'affinement de l'ensemble de paramètres jusqu'à la convergence entre la réponse attendue et la réponse mesurée pour déterminer l'ensemble de paramètres produisant la réponse mesurée.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)