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1. (WO2011148084) CHARACTERIZATION OF THE COMPOSITION OF A DEPOSITED LAYER OF AN ALLOY OF TYPE I-(III',III'')-(VI'-VI'')
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2011/148084    International Application No.:    PCT/FR2011/051157
Publication Date: 01.12.2011 International Filing Date: 20.05.2011
IPC:
G01N 21/65 (2006.01)
Applicants: NEXCIS [FR/FR]; 190 Avenue Célestin Coq F-13790 Rousset (FR) (For All Designated States Except US).
FUNDACIO PRIVADA INSTITUT DE RECERCA DE L'ENERGIA DE CATALUNYA (IREC) [ES/ES]; Avda Diagonal, Num 453 Bis, Planta AT E-08036 Barcelona (ES) (For All Designated States Except US).
UNIVERSIDAD DE BARCELONA (UB) [ES/ES]; Gran Via de les Corts Catalanes, 585 E-08007 Barcelona (ES) (For All Designated States Except US).
BERMUDEZ BENITO, Veronica [ES/FR]; (FR) (For US Only).
SAUCEDO SILVA, Edgardo [ES/FR]; (FR) (For US Only).
SALVADOR JAIME-FERRER, Jesus [ES/FR]; (FR) (For US Only).
PEREZ RODRIGUEZ, Alejandro [ES/ES]; (ES) (For US Only).
MORANTE LLEONART, Joan Ramon [ES/ES]; (ES) (For US Only).
FONTANE SANCHEZ, Javier [ES/ES]; (ES) (For US Only).
IZQUIERDO ROCA, Victor [ES/ES]; (ES) (For US Only).
ALVAREZ GARCIA, Jacobo [ES/ES]; (ES) (For US Only)
Inventors: BERMUDEZ BENITO, Veronica; (FR).
SAUCEDO SILVA, Edgardo; (FR).
SALVADOR JAIME-FERRER, Jesus; (FR).
PEREZ RODRIGUEZ, Alejandro; (ES).
MORANTE LLEONART, Joan Ramon; (ES).
FONTANE SANCHEZ, Javier; (ES).
IZQUIERDO ROCA, Victor; (ES).
ALVAREZ GARCIA, Jacobo; (ES)
Agent: HASSINE, Albert; Cabinet Plasseraud 52, rue de la Victoire F-75440 Paris Cedex 09 (FR)
Priority Data:
10/02208 26.05.2010 FR
Title (EN) CHARACTERIZATION OF THE COMPOSITION OF A DEPOSITED LAYER OF AN ALLOY OF TYPE I-(III',III'')-(VI'-VI'')
(FR) CARACTÉRISATION DE LA COMPOSITION D'UNE COUCHE DÉPOSÉE D'UN ALLIAGE DE TYPE I-(III',III'')-(VI'-VI'')
Abstract: front page image
(EN)The invention relates to the characterization of the composition of a deposited layer of an alloy of type I-(IH´,III´´)-(Vr,VI") such as for example Cu(InxGa1_x)(SySe1_y)2. By illuminating the alloy layer with incident radiation of wavelength close to the wavelength corresponding to the forbidden bandwidth of the alloy, a Raman resonance phenomenon is generated. The method then comprises the steps: - measurement of the intensity of a Raman scattering peak characteristic of the alloy of the layer, and determination as a function of said intensity measurement, of a proportion of the III'' species with respect to the III' species, and/or of the VF species with respect to the VI´´ species, in the alloy of the thin layer.
(FR)L'invention concerne la caractérisation de la composition d'une couche déposée d'un alliage de type I-(IH´,III´´)-(Vr,VI") tel que par exemple Cu(InxGa1_x)(SySe1_y)2. Par éclairement de la couche d'alliage par un rayonnement incident de longueur d'onde proche d'une longueur d'onde correspondant à la largeur de bande interdite de l'alliage, on génère un phénomène de résonance Raman. Le procédé comporte alors les étapes : - mesure de l'intensité d'un pic de diffusion Raman caractéristique de l'alliage de la couche, et détermination en fonction de ladite mesure d'intensité, d'une proportion de l'espèce ΙΙI´ par rapport à l'espèce III´´, et/ou de l'espèce VF par rapport à l'espèce VI´´, dans l'alliage de la couche mince.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: French (FR)
Filing Language: French (FR)