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1. (WO2011145916) AN ELECTRICAL INTERCONNECT ASSEMBLY AND A TEST CONTACT FOR AN ELECTRICAL INTERCONNECT ASSEMBLY
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2011/145916    International Application No.:    PCT/MY2010/000083
Publication Date: 24.11.2011 International Filing Date: 21.05.2010
IPC:
G01R 1/04 (2006.01)
Applicants: JF MICROTECHNOLOGY SDN. BHD. [MY/MY]; Lot 6, Jalan Teknologi 3/6 Taman Sains Selangor 1 Kota Damansara 47810 Petaling Jaya Selangor (MY) (For All Designated States Except US).
FOONG, Wei, Kuong [MY/MY]; (MY) (For US Only)
Inventors: FOONG, Wei, Kuong; (MY)
Agent: ONG, Charmayne Poh Yin; Skrine Unit no. 50-8-1, 8th Floor Wisma UOA Damansara 50 Jalan Dungun, Damansara Heights 50490 Kuala Lumpur (MY)
Priority Data:
Title (EN) AN ELECTRICAL INTERCONNECT ASSEMBLY AND A TEST CONTACT FOR AN ELECTRICAL INTERCONNECT ASSEMBLY
(FR) ENSEMBLE INTERCONNEXION ÉLECTRIQUE ET CONTACT D'ESSAI POUR UN ENSEMBLE INTERCONNEXION ÉLECTRIQUE
Abstract: front page image
(EN)An electrical test contact (30, 60) is disclosed for electrically connecting a test terminal (12) of an IC test assembly (14) with an IC terminal (15) of an IC device (16) in an electrical interconnect assembly (10). The test contact (30, 60) is formed of electrically conductive material and comprises a substantially planar body portion (40, 62) having a substantially constant first thickness, a head portion (42) and a foot portion (64). At least one of the head portion (42) and foot portion (64) has a second thickness greater than the first thickness. The head portion (42) comprises a first electrical contacting portion (24) for electrically engaging an IC terminal (15) of an IC device (16) during use, and the foot portion (64) comprises a second electrical contacting portion (26) for electrically engaging a test terminal (12) of a test assembly (14) during use. The first and second electrical contacting portions (24, 26) are substantially oppositely located on the test contact (30, 60). An electrical interconnect assembly (10) comprising a plurality of such test contacts (30, 60) is also disclosed.
(FR)L'invention concerne un contact électrique d'essai (30, 60) servant à connecter électriquement une borne d'essai (12) d'un ensemble essai de CI (14) à une borne de CI (15) d'un dispositif à CI (16) dans un ensemble interconnexion électrique (10). Le contact d'essai (30, 60) est constitué d'un matériau électroconducteur et comprend une partie corps sensiblement plane (40, 62) possédant une première épaisseur sensiblement constante, une partie tête (42) et une partie pied (64). Au moins une partie parmi la partie tête (42) et la partie pied (64) possède une seconde épaisseur supérieure à la première épaisseur. La partie tête (42) comprend une première partie de contact électrique (24) servant à entrer en contact électrique avec une borne de CI (15) d'un dispositif à CI (16) pendant l'utilisation, et la partie pied (64) comprend une seconde partie de contact électrique (26) servant à entrer en contact électrique avec une borne d'essai (12) d'un ensemble essai (14) pendant l'utilisation. La première et la seconde partie de contact électrique (24, 26) sont sensiblement opposées l'une par rapport à l'autre sur le contact d'essai (30, 60). L'invention concerne également un ensemble interconnexion électrique (10) comprenant une pluralité desdits contacts d'essai (30, 60).
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)