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1. (WO2011142167) ELECTRON MULTIPLICATION FACTOR MEASUREMENT METHOD AND IMAGE CAPTURE DEVICE
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2011/142167    International Application No.:    PCT/JP2011/055253
Publication Date: 17.11.2011 International Filing Date: 07.03.2011
IPC:
H04N 5/3725 (2011.01)
Applicants: HAMAMATSU PHOTONICS K.K. [JP/JP]; 1126-1, Ichino-cho, Higashi-ku, Hamamatsu-shi, Shizuoka 4358558 (JP) (For All Designated States Except US).
ITO Katsuhide [JP/JP]; (JP) (For US Only)
Inventors: ITO Katsuhide; (JP)
Agent: HASEGAWA Yoshiki; SOEI PATENT AND LAW FIRM, Marunouchi MY PLAZA (Meiji Yasuda Life Bldg.) 9th fl., 1-1, Marunouchi 2-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1000005 (JP)
Priority Data:
2010-112204 14.05.2010 JP
Title (EN) ELECTRON MULTIPLICATION FACTOR MEASUREMENT METHOD AND IMAGE CAPTURE DEVICE
(FR) PROCÉDÉ DE MESURE DU COEFFICIENT DE MULTIPLICATION D'ÉLECTRONS ET DISPOSITIF DE SAISIE D'IMAGE
(JA) 電子増倍率の測定方法及び撮像装置
Abstract: front page image
(EN)Disclosed is an electron multiplication factor image capture device (1), comprising a solid-state image capture element (10) further comprising an image part (101a) and an OPB part (101b). An image acquisition unit (24a) acquires a multiplied image at a preset prescribed electron multiplication factor. A luminosity computation unit (24b) computes an average luminosity and an average luminosity distribution of pixels corresponding to the image part (101a) in the acquired multiplied image, and computes an average luminosity and an average luminosity distribution of pixels corresponding to the OPB part (101b) in the acquired multiplied image. A conversion factor computation unit (24c) employs the computed average luminosities and average luminosity distributions to compute a conversion factor of the multiplied image. A multiplication factor computation unit (24d) employs the conversion factor and a conversion factor in a reference electron multiplication factor to derive an electron multiplication factor of the multiplied image.
(FR)L'invention concerne un dispositif de saisie d'image de coefficient de multiplication d'électrons (1), comprenant un élément de saisie d'image à semi-conducteurs (10) comprenant en outre une partie d'image (101a) et une partie OPB (101b). Une unité d'acquisition d'image (24a) acquiert une image multipliée avec un coefficient prédéfini de multiplication d'électrons prévu. Une unité de calcul de luminosité (24b) calcule une luminosité moyenne et une distribution de luminosité moyenne de pixels correspondant à la partie d'image (101a) dans l'image multipliée acquise, et calcule une luminosité moyenne et une distribution de luminosité moyenne de pixels correspondant à la partie OPB (101b) dans l'image multipliée acquise. Une unité de calcul de coefficient de conversion (24c) utilise les luminosités moyennes et les distributions de luminosité moyennes calculées pour calculer un coefficient de conversion de l'image multipliée. Une unité de calcul de coefficient de multiplication (24d) utilise le coefficient de conversion et un coefficient de conversion dans un coefficient de multiplication d'électrons de référence pour déduire un coefficient de multiplication d'électrons de l'image multipliée.
(JA) イメージ部101aとOPB部101bとを有する固体撮像素子10を備える電子増倍型撮像装置1において、画像取得部24aが予め設定された所定の電子増倍率で増倍画像を取得し、輝度算出部24bが取得した増倍画像において、イメージ部101aに対応する画素の輝度平均値及び輝度分散平均値を算出し、増倍画像において、OPB部101bに対応する画素の輝度平均値及び輝度分散平均値を算出する。そして、算出した輝度平均値及び輝度分散平均値を用いて変換係数算出部24cが増倍画像の変換係数を算出し、この変換係数と基準電子増倍率における変換係数とを用いて増倍率算出部24dが増倍画像の電子増倍率を求める。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)