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1. (WO2011140233) SYSTEM FOR CONCURRENT TEST OF SEMICONDUCTOR DEVICES
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2011/140233    International Application No.:    PCT/US2011/035212
Publication Date: 10.11.2011 International Filing Date: 04.05.2011
IPC:
G06F 11/22 (2006.01), G06F 19/00 (2011.01), G06F 9/44 (2006.01)
Applicants: TERADYNE, INC. [US/US]; 600 Riverpark Drive North Reading, MA 01864 (US) (For All Designated States Except US).
VAN WAGENEN, Bethany [US/US]; (US) (For US Only).
EDWARD, Seng, J. [US/US]; (US) (For US Only)
Inventors: VAN WAGENEN, Bethany; (US).
EDWARD, Seng, J.; (US)
Agent: WALSH, Edmund, J.; Wolf, Greenfield & Sacks, P.C. 600 Atlantic Avenue Boston, MA 02210-2206 (US)
Priority Data:
61/331,418 05.05.2010 US
Title (EN) SYSTEM FOR CONCURRENT TEST OF SEMICONDUCTOR DEVICES
(FR) SYSTÈME POUR L'ESSAI SIMULTANÉ DE DISPOSITIFS SEMI-CONDUCTEURS
Abstract: front page image
(EN)A tool to aid a test engineer in creating a concurrent test plan. The tool may quickly map test system resources to specific pins to satisfy the requirements of a concurrent test. The tool may project test time when such a mapping is possible. When a mapping is not possible, the tool may inform its user, including making suggestions of additional resources that could allow the test system to perform the test or suggestions for other variations in input parameters that would allow a mapping. The tool employs an assignment process in which groups of associated pins are identified, along with associated resource requirements for each group. Groups of test system resources that collectively fulfill a higher level requirement are identified and the assignment is made by mapping resource sets to resource groups, using ordering and matching heuristics to reduce processing time.
(FR)L'invention porte sur un outil pour aider un ingénieur d'essai à créer un plan d'essai simultané. L'outil peut mettre en correspondance rapidement des ressources de système d'essai avec des numéros d'identification personnels spécifiques pour satisfaire aux exigences d'un essai simultané. L'outil peut projeter un temps d'essai lorsqu'une telle mise en correspondance est possible. Lorsqu'une mise en correspondance n'est pas possible, l'outil peut informer son utilisateur, comprenant la réalisation de suggestions de ressources supplémentaires qui permettraient au système d'essai de réaliser l'essai ou des suggestions pour d'autres variations des paramètres d'entrée qui permettraient une mise en correspondance. L'outil emploie un processus d'affectation dans lequel des groupes de numéros d'identification personnels associés sont identifiés, avec des exigences de ressource associées pour chaque groupe. Les groupes de ressources de système d'essai qui remplissent collectivement une exigence de niveau élevé sont identifiés et l'affectation est réalisée par mise en correspondance d'ensembles de ressource avec des groupes de ressources, à l'aide de l'ordonnancement et de la mise en correspondance d'heuristiques pour réduire le temps de traitement.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)