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Pub. No.:    WO/2011/138870    International Application No.:    PCT/JP2011/002544
Publication Date: 10.11.2011 International Filing Date: 02.05.2011
H01J 11/12 (2012.01), H01J 11/40 (2012.01)
Applicants: PANASONIC CORPORATION [JP/JP]; 1006, Oaza Kadoma, Kadoma-shi, Osaka 5718501 (JP) (For All Designated States Except US).
FUKUI, Yusuke; (For US Only).
NISHITANI, Mikihiko; (For US Only).
SAKAI, Masahiro; (For US Only).
OKAFUJI, Michiko; (For US Only).
OKUI, Yayoi; (For US Only).
HONDA, Yosuke; (For US Only).
YAMAUCHI, Yasuhiro; (For US Only).
INOUE, Osamu; (For US Only).
ASANO, Hiroshi; (For US Only)
Inventors: FUKUI, Yusuke; .
NISHITANI, Mikihiko; .
SAKAI, Masahiro; .
OKAFUJI, Michiko; .
OKUI, Yayoi; .
HONDA, Yosuke; .
YAMAUCHI, Yasuhiro; .
INOUE, Osamu; .
ASANO, Hiroshi;
Agent: NAKAJIMA, Shiro; 6F, Yodogawa 5-Bankan, 2-1, Toyosaki 3-chome, Kita-ku, Osaka-shi, Osaka 5310072 (JP)
Priority Data:
2010-107104 07.05.2010 JP
(JA) プラズマディスプレイパネル
Abstract: front page image
(EN)Disclosed is a PDP wherein the configuration of the periphery of a protection film is improved, excellent secondary electron emission characteristics are exhibited, and high efficiency and long service-life can be expected. Furthermore, generation of a discharge delay is eliminated when the PDP is being driven, and high-quality image display performance can be expected even in the high-speed driven and highly fine PDP. Specifically, on the dielectric layer (7) surface on the discharge space side, a crystalline film is formed as a protection film (8) to be a surface layer having a film thickness of approximately 1 μm, said crystalline film having Sr at a concentration of 11.8-49.4 mol% added to CeO2. On the crystalline film, high-γ fine particles (17) having secondary electron emission characteristics higher than those of the protection film is disposed, thereby improving the secondary electron emission characteristics, luminance, efficiency and reliability of the protection film.
(FR)L'invention concerne un PDP (Plasma Display Pannel, Panneau d'affichage à plasma), dans lequel la configuration de la périphérie d'un film de protection est améliorée, permettant d'obtenir d'excellentes caractéristiques d'émission d'électrons secondaires, et permettant de s'attendre à un rendement élevé et à une longue durée de vie utile. De plus, l'apparition d'un retard de décharge est éliminée lors de l'attaque du panneau PDP, et on peut s'attendre à de bonnes performances d'affichage d'image de haute qualité même dans le cas d'un panneau PDP attaqué à vitesse élevée et de grande finesse. Plus précisément, sur la surface de la couche diélectrique (7), du côté de l'espace de décharge, un film cristallin est formé sous la forme d'un film de protection (8) destiné à former une couche superficielle ayant une épaisseur de film d'environ 1 μm, ledit film cristallin contenant du Sr à une concentration de 11,8 à 49,4 mol% ajouté à du CeO2. Sur le film cristallin, sont déposées des particules fines de γ élevé (17) ayant des caractéristiques d'émission d'électrons secondaires supérieures à celles du film de protection, celles-ci améliorant les caractéristiques d'émission d'électrons secondaires, la luminance, le rendement et la fiabilité du film de protection.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)