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1. (WO2011087490) CAPACITIVE OPENS TESTING IN LOW SIGNAL ENVIRONMENTS
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Pub. No.: WO/2011/087490 International Application No.: PCT/US2010/003238
Publication Date: 21.07.2011 International Filing Date: 21.12.2010
IPC:
G01R 27/26 (2006.01)
G PHYSICS
01
MEASURING; TESTING
R
MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
27
Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
02
Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
26
Measuring inductance or capacitance; Measuring quality factor, e.g. by using the resonance method; Measuring loss factor; Measuring dielectric constants
Applicants:
TERADYNE, INC. [US/US]; 600 Riverpark Drive North Reading, MA 01864, US (AllExceptUS)
SUTO, Anthony, J. [US/US]; US (UsOnly)
Inventors:
SUTO, Anthony, J.; US
Agent:
WALSH, Edmund, J.; Wolf, Greenfield & Sacks, P.C. 600 Atlantic Avenue Boston, MA 02210-2206, US
Priority Data:
12/645,41822.12.2009US
Title (EN) CAPACITIVE OPENS TESTING IN LOW SIGNAL ENVIRONMENTS
(FR) TESTS D'OUVERTURES CAPACITIFS DANS DES ENVIRONNEMENTS À SIGNAL FAIBLE
Abstract:
(EN) An improved system for capacitive testing electrical connections in a low signal environment. The system includes features that increase sensitivity of a capacitive probe. One feature is a spacer positioned to allow the probe to be partially inserted into the component without contacting the pins. The spacer may be a collar on the probe that contacts the housing of the component, contacts the substrate of the circuit assembly, or both. In some other embodiments, the spacer may be a riser extending beyond the surface of the sense plate that contacts the component, a riser portion of the component, or a combination of both. The spacer improves sensitivity by establishing a small gap between a sense plate of the probe and pins under test without risk of damage to the pins. A second feature is a guard plate of the probe with reduced capacitance to a sense plate of the probe. Reducing capacitance also increases the sensitivity of the probe.
(FR) L'invention concerne un système amélioré pour le test capacitif de connexions électriques dans un milieu à signal faible. Le système comprend des caractéristiques qui augmentent la sensibilité d'une sonde capacitive. Une caractéristique consiste en un espaceur disposé de sorte que la sonde puisse être partiellement insérée dans le composant sans entrer en contact avec les broches. L'espaceur peut consister en une bague sur la sonde entrant en contact avec le boîtier du composant, avec le substrat de l'ensemble circuit ou avec les deux. Dans certains autres modes de réalisation, l'espaceur peut consister en un montant s'étendant au-delà de la surface de la plaque de détection entrant en contact avec le composant, une partie montant du composant ou une combinaison des deux. L'espaceur améliore la sensibilité en formant un jour réduit entre la plaque de détection de la sonde et les broches testées sans risque d'endommager ces dernières. Une seconde caractéristique consiste en une plaque de protection de la sonde possédant une capacitance réduite vis-à-vis la plaque de détection de la sonde. Une diminution de la capacitance permet également d'augmenter la sensibilité de la sonde.
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Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)
Also published as:
EP2491409CN102667505SG181443