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1. (WO2011022391) HIGH RESOLUTION SENSOR WITH SCALABLE SAMPLE RATE
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2011/022391    International Application No.:    PCT/US2010/045749
Publication Date: 24.02.2011 International Filing Date: 17.08.2010
Chapter 2 Demand Filed:    03.06.2011    
IPC:
E21B 47/06 (2006.01), G01V 9/00 (2006.01), G01D 5/244 (2006.01), E21B 47/12 (2006.01)
Applicants: BAKER HUGHES INCORPORATED [US/US]; PO Box 4740 Houston, Texas 77210-4740 (US) (For All Designated States Except US).
ZHAO, Jinsong [CN/US]; (US) (For US Only).
MAXIT, Jorge O. [US/US]; (US) (For US Only)
Inventors: ZHAO, Jinsong; (US).
MAXIT, Jorge O.; (US)
Priority Data:
61/234,402 17.08.2009 US
Title (EN) HIGH RESOLUTION SENSOR WITH SCALABLE SAMPLE RATE
(FR) CAPTEUR DE HAUTE DÉFINITION AVEC FRÉQUENCE D'ÉCHANTILLONNAGE POUVANT ÊTRE MISE À UNE ÉCHELLE
Abstract: front page image
(EN)Apparatus and methods of providing a selected sample rate for sensor measurements are provided, which in one aspect may include a circuit configured to receive sensor signals as a first series of count rates corresponding to sensor the sensor measurements, each count rate representing a value of a parameter of interest, at least two accumulators configured to alternately accumulate the count rates in the series of count rates over a time period that corresponds to a selected sample rate and a controller configured to control the time periods for the at least two accumulators.
(FR)L'invention porte sur un appareil et sur des procédés pour produire une fréquence d'échantillonnage sélectionnée pour des mesures de capteur, lesquels, dans un aspect, peuvent comprendre un circuit configuré pour recevoir des signaux de capteur à une première série de fréquences de comptage correspondant à la détection des mesures de capteur, chaque fréquence de comptage représentant une valeur d'un paramètre d'intérêt, au moins deux accumulateurs configurés pour accumuler en alternance les fréquences de comptage dans la série de fréquences de comptage au cours d'une période de temps qui correspond à une fréquence d'échantillonnage sélectionnée et un dispositif de commande configuré pour commander les périodes de temps pour les au moins deux accumulateurs.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)