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1. (WO2011012453) DETECTING CHIP ALTERATIONS WITH LIGHT EMISSION
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2011/012453    International Application No.:    PCT/EP2010/060187
Publication Date: 03.02.2011 International Filing Date: 15.07.2010
IPC:
G01R 31/311 (2006.01)
Applicants: INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION [US/US]; New Orchard Road Armonk, New York 10504 (US) (For All Designated States Except US).
SONG, Peilin [US/US]; (US) (For US Only).
BERNSTEIN, Kerry [US/US]; (US) (For US Only).
CULP, James [US/US]; (US) (For US Only).
HEIDEL, David [US/US]; (US) (For US Only).
PFEIFFER, Dirk [DE/US]; (US) (For US Only).
POLSON, Anthony [US/US]; (US) (For US Only).
STELLARI, Franco [IT/US]; (US) (For US Only).
WISNIERFF, Robert, Luke [US/US]; (US) (For US Only)
Inventors: SONG, Peilin; (US).
BERNSTEIN, Kerry; (US).
CULP, James; (US).
HEIDEL, David; (US).
PFEIFFER, Dirk; (US).
POLSON, Anthony; (US).
STELLARI, Franco; (US).
WISNIERFF, Robert, Luke; (US)
Agent: BURT, Roger, James; IBM United Kingdom Limited Intellectual Property Law Hursley Park Winchester Hampshire SO21 2JN (GB)
Priority Data:
12/512,168 30.07.2009 US
Title (EN) DETECTING CHIP ALTERATIONS WITH LIGHT EMISSION
(FR) DÉTECTION D'ALTÉRATIONS DE PUCE AVEC ÉMISSION DE LUMIÈRE
Abstract: front page image
(EN)An emission map of a circuit to be tested for alterations is obtained by measuring the physical circuit to be tested. An emission map of a reference circuit is obtained by measuring a physical reference circuit or by simulating the emissions expected from the reference circuit. The emission map of the circuit to be tested is compared with the emission map of the reference circuit, to determine presence of alterations in the circuit to be tested, as compared to the reference circuit.
(FR)La présente invention concerne un procédé selon lequel une carte d'émission d'un circuit à contrôler pour la présence d'altérations est obtenue par la mesure du circuit physique à contrôler. Une carte d'émission d'un circuit de référence est obtenue par la mesure d'un circuit physique de référence ou par la simulation des émissions prévues provenant du circuit de référence. La carte d'émission du circuit à contrôler est comparée à la carte d'émission du circuit de référence, pour déterminer la présence d'altérations dans le circuit à contrôler, par comparaison avec le circuit de référence.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)