Processing

Please wait...

Settings

Settings

Goto Application

1. WO2011003917 - MONITORING THE EFFECTIVE AGE OF ELECTRONIC COMPONENTS OR ASSEMBLIES

Note: Text based on automatic Optical Character Recognition processes. Please use the PDF version for legal matters

[ DE ]

Patentansprüche

1. Verfahren zur Bestimmung der Restlebensdauer eines e- lektronischen Bauteils oder einer elektronischen Bau- gruppe, bei dem

ab dem Zeitpunkt der Inbetriebnahme des elektronischen Bauteils bzw. der elektronischen Baugruppe und/oder von mindestens einem ausgewählten Bereich davon repräsentative Temperaturen ermittelt und aufgezeichnet werden, wobei

zu jeweils vorgegebenen Zeitpunkten nach der Inbetriebnahme des elektronischen Bauteils bzw. der elektronischen Baugruppe aus Anzahl und Größe von zeitlichen Veränderungen der ermittelten Temperaturen das effektive Lebensalter des elektronischen Bauteils bzw. der elektronischen Baugruppe errechnet wird und

aus einem vorgegebenen Maximallebensalter des elektronischen Bauteils bzw. der elektronischen Baugruppe und dem errechneten abgelaufenen effektiven Lebensalter des e- lektronischen Bauteils bzw. der elektronischen Baugruppe die jeweilige Restlebensdauer bestimmt wird.

2. Verfahren nach Anspruch 1, bei dem das elektronische

Bauteil bzw. die elektronische Baugruppe ein Substrat oder einen Träger aufweist und die repräsentativen Temperaturen durch mindestens einen auf dem Substrat oder Träger angeordneten Temperatursensor ermittelt werden.

3. Verfahren nach Anspruch 2, bei dem unter Verwendung ei- ner ersten Umrechnungstabelle aus den von den Temperatursensoren ermittelten repräsentativen Temperaturen und der Bauteil- bzw. Baugruppenverlustleistung die Temperaturen von mindestens einem ausgewählten Bereich des e- lektronischen Bauteils bzw. der elektronischen Baugruppe errechnet werden.

4. Verfahren nach Anspruch 2, bei dem unter Verwendung ei- nes dynamischen Temperaturmodells aus den von den Temperatursensoren ermittelten repräsentativen Temperaturen und der Bauteil- bzw. Baugruppenverlustleistung die Temperaturen von mindestens einem ausgewählten Bereich des elektronischen Bauteils bzw. der elektronischen Baugrup- pe errechnet werden.

5. Verfahren nach Anspruch 3 oder 4, bei dem der mindestens eine Bereich des elektronischen Bauteils bzw. der elektronischen Baugruppe, eine Bonddrahtverbindung oder eine Lotschicht ist.

6. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 5, bei dem unter Verwendung einer zweiten Umrechnungstabelle aus einem gemessenen Strom- und Spannungsverlauf und einer vorab bestimmten thermischen Impedanz des Bauteils bzw. der elektronischen Baugruppe die Bauteil- bzw. Baugruppenverlustleistung errechnet wird.

7. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 5, bei dem un- ter Verwendung eines dynamischen Verlustleistungsmodells aus einem gemessenen Strom- und Spannungsverlauf und einer vorab bestimmten thermischen Impedanz des Bauteils bzw. der elektronischen Baugruppe die Bauteil- bzw. Baugruppenverlustleistung errechnet wird.

8. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 7, bei dem die zeitliche Veränderung der ermittelten Temperatur entsprechend der Größe der zeitlichen Veränderungen einer aus einer Vielzahl von Größenklassen zugeordnet wird, wobei das effektive Lebensalter der elektronischen Bauteile bzw. der elektronischen Baugruppen in Abhängigkeit von der Anzahl der zeitlichen Veränderungen der ermittelten Temperaturen je Größenklasse errechnet wird.

9. Verfahren nach Anspruch 8, bei dem die Größenklassen unterschiedlich gewichtet werden.

10. Verfahren nach einem der Ansprüche 8 bis 10, bei dem das elektronische Bauteil bzw. die elektronische Baugruppe

Teil einer Leistungselektronik für ein Fahrzeug sind.

11. Verfahren nach einem der Ansprüche 9 oder 10, bei dem die Restlebensdauer in einer Recheneinheit einer Fahr- zeugelektronik berechnet wird.

12. Verfahren nach Anspruch 12, bei dem die Restlebensdauer berechnet wird, wenn das Fahrzeug nicht in Betrieb ist.

13. Verfahren nach einem der Ansprüche 9 oder 10, bei dem die gemessenen Temperaturen zur Berechnung der Restlebensdauer drahtlos oder drahtgebunden an zu dem Fahrzeug externe Recheneinheiten übertragen werden.

14. Verfahren nach einem der Ansprüche 9 bis 13, bei dem bei Unterschreiten einer vorgegebenen Restlebensdauer des elektronischen Bauteils bzw. der elektronischen Baugruppe ein Warnsignal erzeugt wird.

15. Verfahren nach einem der vorherigen Ansprüche, bei dem die vorgegebenen Zeitpunkte von bestimmten Ereignissen abhängen .