WIPO logo
Mobile | Deutsch | Español | Français | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Search International and National Patent Collections
World Intellectual Property Organization
Search
 
Browse
 
Translate
 
Options
 
News
 
Login
 
Help
 
Machine translation
1. (WO2010150615) DISPLAY DEVICE AND MULTILAYER SUBSTRATE
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2010/150615    International Application No.:    PCT/JP2010/058903
Publication Date: 29.12.2010 International Filing Date: 26.05.2010
IPC:
G02F 1/1335 (2006.01), G02B 1/11 (2006.01), G02B 5/30 (2006.01), G09F 9/00 (2006.01), G02B 5/20 (2006.01)
Applicants: Sharp Kabushiki Kaisha [JP/JP]; 22-22, Nagaike-cho, Abeno-ku, Osaka-shi, Osaka 5458522 (JP) (For All Designated States Except US).
YAMADA Nobuaki [JP/--]; (For US Only).
SAKURAGI Kazuyoshi [JP/--]; (For US Only).
FUJII Akiyoshi [JP/--]; (For US Only).
TAGUCHI Tokio [JP/--]; (For US Only)
Inventors: YAMADA Nobuaki; .
SAKURAGI Kazuyoshi; .
FUJII Akiyoshi; .
TAGUCHI Tokio;
Agent: YASUTOMI & Associates; 5-36, Miyahara 3-chome, Yodogawa-ku, Osaka-shi, Osaka 5320003 (JP)
Priority Data:
2009-148942 23.06.2009 JP
Title (EN) DISPLAY DEVICE AND MULTILAYER SUBSTRATE
(FR) DISPOSITIF D'AFFICHAGE ET SUBSTRAT À PLUSIEURS COUCHES
(JA) 表示装置及び多層基板
Abstract: front page image
(EN)Disclosed is a display device wherein reflecting light is reduced. Also disclosed is a multilayer substrate wherein the reflection ratio of light is reduced even the multilayer substrate has a plurality of layers having different refraction indexes. In the display device, the reflection ratio of light reflected by the internal structure among the light that has passed through the display screen and entered the internal structure is less than 1.0%. The multilayer substrate has a first layer and a second layer disposed adjacent to the first layer. The refraction index of the second layer continually changes toward the side opposite to the first layer from the second layer interface adjacent to the first layer, with the value of the refraction index of the first layer interface adjacent to the second layer as a starting value.
(FR)Un dispositif d'affichage d'après la présente invention permet de réduire une lumière réfléchie. De plus, dans un substrat à plusieurs couches d'après la présente invention, le rapport de réflexion de la lumière est réduit même quand le substrat à plusieurs couches comporte une pluralité de couches ayant différents indices de réfraction. Dans le dispositif d'affichage, le rapport de réflexion de la lumière réfléchie par la structure interne parmi la lumière ayant traversé l'écran d'affichage et pénétré dans la structure interne est inférieur à 1,0 %. Le substrat à plusieurs couches comprend une première couche et une seconde couche située à côté de la première. L'indice de réfraction de la seconde couche varie continuellement vers le côté opposé à la première couche à partir de l'interface de la seconde couche à côté de la première couche, la valeur de l'indice de réfraction de l'interface de la première couche à côté de la seconde couche faisant office de valeur de départ.
(JA)本発明は、反射光の低減が実現された表示装置を提供する。また、本発明は、屈折率が互いに異なる複数の層を有する場合であっても、光の反射率が低減される多層基板を提供する。本発明の表示装置は、表示画面を通り抜けて内部構造に入射した光のうち、内部構造で反射する光の反射率が、1.0%未満である表示装置である。また、本発明の多層基板は、第一の層、及び、第一の層に隣接して配置された第二の層を有する多層基板であって、上記第二の層の屈折率は、第二の層の第一の層と隣接する界面から、第一の層と反対方向に向かって、第一の層の第二の層と隣接する界面における屈折率の値を起点として連続的に変化している多層基板である。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)