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Pub. No.:    WO/2010/150615    International Application No.:    PCT/JP2010/058903
Publication Date: 29.12.2010 International Filing Date: 26.05.2010
G02F 1/1335 (2006.01), G02B 1/11 (2006.01), G02B 5/30 (2006.01), G09F 9/00 (2006.01), G02B 5/20 (2006.01)
Applicants: Sharp Kabushiki Kaisha [JP/JP]; 22-22, Nagaike-cho, Abeno-ku, Osaka-shi, Osaka 5458522 (JP) (For All Designated States Except US).
YAMADA Nobuaki [JP/--]; (For US Only).
SAKURAGI Kazuyoshi [JP/--]; (For US Only).
FUJII Akiyoshi [JP/--]; (For US Only).
TAGUCHI Tokio [JP/--]; (For US Only)
Inventors: YAMADA Nobuaki; .
SAKURAGI Kazuyoshi; .
FUJII Akiyoshi; .
Agent: YASUTOMI & Associates; 5-36, Miyahara 3-chome, Yodogawa-ku, Osaka-shi, Osaka 5320003 (JP)
Priority Data:
2009-148942 23.06.2009 JP
(JA) 表示装置及び多層基板
Abstract: front page image
(EN)Disclosed is a display device wherein reflecting light is reduced. Also disclosed is a multilayer substrate wherein the reflection ratio of light is reduced even the multilayer substrate has a plurality of layers having different refraction indexes. In the display device, the reflection ratio of light reflected by the internal structure among the light that has passed through the display screen and entered the internal structure is less than 1.0%. The multilayer substrate has a first layer and a second layer disposed adjacent to the first layer. The refraction index of the second layer continually changes toward the side opposite to the first layer from the second layer interface adjacent to the first layer, with the value of the refraction index of the first layer interface adjacent to the second layer as a starting value.
(FR)Un dispositif d'affichage d'après la présente invention permet de réduire une lumière réfléchie. De plus, dans un substrat à plusieurs couches d'après la présente invention, le rapport de réflexion de la lumière est réduit même quand le substrat à plusieurs couches comporte une pluralité de couches ayant différents indices de réfraction. Dans le dispositif d'affichage, le rapport de réflexion de la lumière réfléchie par la structure interne parmi la lumière ayant traversé l'écran d'affichage et pénétré dans la structure interne est inférieur à 1,0 %. Le substrat à plusieurs couches comprend une première couche et une seconde couche située à côté de la première. L'indice de réfraction de la seconde couche varie continuellement vers le côté opposé à la première couche à partir de l'interface de la seconde couche à côté de la première couche, la valeur de l'indice de réfraction de l'interface de la première couche à côté de la seconde couche faisant office de valeur de départ.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)