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1. (WO2010147679) APPARATUS AND METHOD FOR CALIBRATING A TRAMP METAL DETECTOR
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2010/147679    International Application No.:    PCT/US2010/020007
Publication Date: 23.12.2010 International Filing Date: 04.01.2010
IPC:
B65G 47/10 (2006.01)
Applicants: CARMEUSE LIME, INC. [US/US]; 11 Stanwix Sreet Pittsburgh, PA 15222 (US) (For All Designated States Except US)
Inventors: BENTLEY, Brandon, Lee; (US).
LIPPERT, Jeffery, Shane; (US)
Agent: BAKER, James, N.; Kratz, Quintos & Hanson, LLP Suite 308 4232 Brownsville Road Pittsburgh, PA 15227 (US)
Priority Data:
12/484,347 15.06.2009 US
Title (EN) APPARATUS AND METHOD FOR CALIBRATING A TRAMP METAL DETECTOR
(FR) APPAREIL ET PROCÉDÉ POUR ÉTALONNER UN DÉTECTEUR D'IMPURETÉS MÉTALLIQUES
Abstract: front page image
(EN)An apparatus for calibrating a metal detecting device of a materials processing line. A placement arm is provided to control the path of a calibrating sample in order to simulate movement of tramp metal moving on a processing line along with materials being processed. Upper and lower arms of the placement arm are joined by an adjustable elbow which can be set to a maximum angle of extension in order to accurately place the calibrating sample at a preferred location in a detecting field of the metal detecting device.
(FR)L'invention concerne un appareil pour étalonner un dispositif de détection d'impuretés métalliques d'une ligne de traitement de métaux. Un bras de positionnement commande le trajet d'un échantillon d'étalonnage afin de simuler le déplacement d'une impureté métallique mobile sur la ligne de traitement supportant les matériaux traités. Les bras supérieur et inférieur du bras de positionnement sont reliés au moyen d'un coude réglable qui peut être réglé selon un angle d'extension maximum afin de placer précisément l'échantillon d'étalonnage à un emplacement préféré dans le champ de détection du dispositif de détection d'impuretés.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)