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1. (WO2010145831) METHOD AND DEVICE FOR DETECTING HIDDEN OBJECTS BY MEANS OF ELECTROMAGNETIC MILLIMETER WAVES
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2010/145831    International Application No.:    PCT/EP2010/003677
Publication Date: 23.12.2010 International Filing Date: 18.06.2010
IPC:
G01N 21/35 (2006.01), G01S 13/89 (2006.01), G01S 13/90 (2006.01), G01V 8/00 (2006.01), G01S 13/88 (2006.01)
Applicants: SMITHS HEIMANN GMBH [DE/DE]; Im Herzen 4 65205 Wiesbaden (DE) (For All Designated States Except US).
JECK, Michael [DE/DE]; (DE) (For US Only).
VOLZ, Claudius [DE/DE]; (DE) (For US Only)
Inventors: JECK, Michael; (DE).
VOLZ, Claudius; (DE)
Agent: THUL, Hermann; Thul Patentanwaltsgesellschaft mbH Rheinmetall Platz 1 40476 Düsseldorf (DE)
Priority Data:
10 2009 029 913.0 19.06.2009 DE
Title (DE) VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR DETEKTION VON VERDECKTEN GEGENSTÄNDEN MITTELS ELEKTROMAGNETISCHEN MM-WELLEN
(EN) METHOD AND DEVICE FOR DETECTING HIDDEN OBJECTS BY MEANS OF ELECTROMAGNETIC MILLIMETER WAVES
(FR) PROCÉDÉ ET DISPOSITIF DE DÉTECTION D'OBJETS CACHÉS AU MOYEN D'ONDES ÉLECTROMAGNÉTIQUES MILLIMÉTRIQUES
Abstract: front page image
(DE)Bei einem Verfahren zur Detektion von verdeckten Gegenständen mittels elektromagnetischen mm-Wellen, bei dem ein Prüfobjekt mit mm-Wellen bestrahlt wird und vom Prüfobjekt reflektierte mm-Wellen ausgewertet werden, werden die mm-Wellen beim Bestrahlen des Prüfobjekts auf verschiedene Tiefenschichten (3, 4) des Prüfobjekts fokussiert.
(EN)In a method for detecting hidden objects by means of electromagnetic millimeter waves, in which a test object is irradiated with millimeter waves and the millimeter waves that are reflected from the test object are evaluated, the millimeter waves are focused on different depth layers (3, 4) of the test object during the irradiation thereof.
(FR)L'invention concerne un procédé de détection d'objets cachés au moyen d'ondes électromagnétiques millimétriques, qui consiste à exposer un objet à contrôler au rayonnement d'ondes millimétriques et à évaluer les ondes millimétriques réfléchies par l'objet à contrôler. Les ondes millimétriques sont concentrées sur différentes couches de profondeur (3, 4) de l'objet à contrôler lors de l'exposition de l'objet à contrôler.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: German (DE)
Filing Language: German (DE)