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1. (WO2010144139) METHODS, MEMORY CONTROLLERS AND DEVICES FOR WEAR LEVELING A MEMORY
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2010/144139    International Application No.:    PCT/US2010/001669
Publication Date: 16.12.2010 International Filing Date: 10.06.2010
IPC:
G06F 12/02 (2006.01), G06F 12/06 (2006.01), G06F 13/16 (2006.01)
Applicants: MICRON TECHNOLOGY, INC. [US/US]; 8000 S Federal Way Boise, ID 83716-9632 (US) (For All Designated States Except US).
WONG, Wanmo [US/US]; (US) (For US Only).
KEAYS, Brady, L. [US/US]; (US) (For US Only)
Inventors: WONG, Wanmo; (US).
KEAYS, Brady, L.; (US)
Agent: KERN, Jacob, T.; Brooks, Cameron & Huebsch, PLLC 1221 Nicollet Avenue, Suite 500 Minneapolis, MN 55403 (US)
Priority Data:
12/483,712 12.06.2009 US
Title (EN) METHODS, MEMORY CONTROLLERS AND DEVICES FOR WEAR LEVELING A MEMORY
(FR) PROCÉDÉS, CONTRÔLEURS DE MÉMOIRE ET DISPOSITIFS POUR LE NIVELLEMENT D'USURE D'UNE MÉMOIRE
Abstract: front page image
(EN)The present disclosure includes methods, memory controllers and devices for wear leveling a memory. One method embodiment includes selecting, in at least a substantially random manner, a number of memory locations as at least a portion of a sample subset, the sample subset including fewer than all memory locations of the memory. A memory location having a particular wear level characteristic is identified from among the sample subset of memory locations, and data is written to the memory location identified from among the sample subset.
(FR)La présente invention concerne des procédés, des contrôleurs de mémoire et des dispositifs destinés à réaliser le nivellement d'usure d'une mémoire. Un mode de réalisation de procédé comporte l'étape consistant à sélectionner, de manière au moins sensiblement aléatoire, un certain nombre d'emplacements en mémoire pour former au moins une partie d'un sous-ensemble échantillon, ledit sous-ensemble échantillon comprenant moins de la totalité des emplacements de la mémoire. Un emplacement en mémoire présentant une caractéristique particulière de niveau d'usure est identifié au sein du sous-ensemble échantillon d'emplacements en mémoire, et des données sont écrites dans l'emplacement en mémoire identifié au sein du sous-ensemble échantillon.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)