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1. (WO2010140085) REFLECTANCE SPECTRUM MEASUREMENT AT VARIOUS ANGLES
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2010/140085    International Application No.:    PCT/IB2010/052354
Publication Date: 09.12.2010 International Filing Date: 27.05.2010
IPC:
G01N 21/47 (2006.01), A61B 5/00 (2006.01)
Applicants: KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS N.V. [NL/NL]; Groenewoudseweg 1 NL-5621 BA Eindhoven (NL) (For All Designated States Except US).
LIU, Yan [CN/NL]; (NL) (For US Only).
VON BASUM, Golo [DE/DE]; (NL) (For US Only).
MOESKOPS, Bastiaan, Wilhelmus, Maria [NL/NL]; (NL) (For US Only).
UZUNBAJAKAVA, Natallia, Eduardauna [NL/NL]; (NL) (For US Only).
THILWIND, Rachel, Estelle [GB/NL]; (NL) (For US Only)
Inventors: LIU, Yan; (NL).
VON BASUM, Golo; (NL).
MOESKOPS, Bastiaan, Wilhelmus, Maria; (NL).
UZUNBAJAKAVA, Natallia, Eduardauna; (NL).
THILWIND, Rachel, Estelle; (NL)
Agent: KROEZE, John; HIgh Tech Campus Building 44 NL-5656 AE Eindhoven (NL)
Priority Data:
09161749.8 03.06.2009 EP
Title (EN) REFLECTANCE SPECTRUM MEASUREMENT AT VARIOUS ANGLES
(FR) MESURE DU SPECTRE DE RÉFLECTANCE À DIVERS ANGLES
Abstract: front page image
(EN)Measuring reflectance of skin uses an adjustable probe having an illuminator (100) for directing light of more than one wavelength at a given angle onto the skin, a collector (95, 110, 122, 128) for collecting light reflected from the sample at a given angle, and an adjuster (5, 98, 122, 200, Ml, M2), for continuously adjusting the angle of the illuminating light or the collected light. Reflectance is determined according to a predetermined relationship between penetration depth at which the reflections occur, and the wavelength and the angle of adjustment. The angle can be continuously adjusted according to the relationship, or measurements can be selected, so as to maintain a constant penetration depth for a spectrum of wavelengths.
(FR)La mesure de réflectance de la peau selon l'invention utilise une sonde ajustable comprenant un illuminateur (100) pour orienter une lumière ayant plus d'une longueur d'onde à un angle donné sur la peau, un collecteur (95, 110, 122, 128) pour collecter la lumière réfléchie par l'échantillon à un angle donné, et un ajusteur (5, 98, 122, 200, M1, M2) pour ajuster en continu l'angle de la lumière d'éclairement ou de la lumière collectée. La réflectance est déterminée à partir d'une relation prédéterminée entre la profondeur de pénétration à laquelle les réflexions se produisent, et la longueur d'onde et l'angle d'ajustement. L'angle peut être ajusté en continu selon la relation, ou des mesures peuvent être sélectionnées de manière à garder une profondeur de pénétration constante pour obtenir un spectre des longueurs d'ondes.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)