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1. (WO2010139900) IMAGING SYSTEM COMRPISING MICROLENSES AND ASSOCIATED DEVICE FOR DETECTING A SAMPLE
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2010/139900    International Application No.:    PCT/FR2010/051076
Publication Date: 09.12.2010 International Filing Date: 02.06.2010
IPC:
G01N 21/64 (2006.01), G02B 3/00 (2006.01)
Applicants: COMMISSARIAT À L'ÉNERGIE ATOMIQUE ET AUX ÉNERGIES ALTERNATIVES [FR/FR]; Bâtiment le Ponant D - 25 rue Leblanc F-75015 Paris (FR) (For All Designated States Except US).
HAGUET, Vincent [FR/FR]; (FR) (For US Only).
GABRIEL, Marion [FR/FR]; (FR) (For US Only).
CHATELAIN, François [FR/FR]; (FR) (For US Only).
PICOLLETD'HAHAN, Nathalie [FR/FR]; (FR) (For US Only)
Inventors: HAGUET, Vincent; (FR).
GABRIEL, Marion; (FR).
CHATELAIN, François; (FR).
PICOLLETD'HAHAN, Nathalie; (FR)
Agent: JACOBSON, Claude; Cabinet Lavoix 2 Place d'Estienne d'Orves F-75441 Paris Cedex 09 (FR)
Priority Data:
0953631 02.06.2009 FR
Title (EN) IMAGING SYSTEM COMRPISING MICROLENSES AND ASSOCIATED DEVICE FOR DETECTING A SAMPLE
(FR) SYSTÈME D'IMAGERIE À MICROLENTILLES ET DISPOSITIF ASSOCIÉ POUR LA DÉTECTION D'UN ÉCHANTILLON
Abstract: front page image
(EN)The invention relates to an imaging system and an associated device for detecting a sample (4). The imaging system comprises a matrix (24) of photosensors (26), a first lamina (28) disposed opposite the matrix (24) of photosensors defining a face (28A) for supporting the sample, and a set (30) of optical elements, disposed between the matrix (24) of photosensors and the first lamina (28). Each microlens (34) is disposed above a photosensor (26) of the matrix (24) of photosensors. The set (30) of optical elements comprises a matrix (32) of microlenses (34). The set (30) of optical elements comprises an optical medium (36) disposed between the matrix (32) of microlenses and the first lamina (28), the refractive index of the optical medium (36) being substantially between 1 and the refractive index of the microlenses (34). The distance between the face supporting the sample (28A) and the apex of the microlenses (34) is substantially between 0 and 1500 μm as measured along the optical axis (Z) of the photosensors (26).
(FR)L'invention concerne un système d'imagerie et un dispositif associé pour la détection d'un échantillon (4). Le système d'imagerie comprend une matrice (24) de photocapteurs (26), une première lamelle (28) disposée en regard de la matrice (24) de photocapteurs définissant une face (28A) de support de l'échantillon, et un ensemble (30) d'éléments optiques, disposé entre la matrice (24) de photocapteurs et la première lamelle (28). Chaque microlentille (34) est située au-dessus d'un photocapteur (26) de la matrice (24) de photocapteurs. L'ensemble (30) d'éléments optiques comporte une matrice (32) de microlentilles (34). L'ensemble (30) d'éléments optiques comprend un milieu optique (36) disposé entre la matrice (32) de microlentilles et la première lamelle (28), l'indice de réfraction du milieu optique (36) étant sensiblement compris entre 1 et l'indice de réfraction des microlentilles (34). La distance mesurée selon l'axe optique (Z) des photocapteurs (26) entre la face de support de l'échantillon (28A) et le sommet des microlentilles (34) est sensiblement comprise entre 0 et 1500 μm.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: French (FR)
Filing Language: French (FR)