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1. (WO2010138226) A HIGH ENERGY LASER BEAM DIRECTOR SYSTEM AND METHOD
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2010/138226    International Application No.:    PCT/US2010/026029
Publication Date: 02.12.2010 International Filing Date: 03.03.2010
Chapter 2 Demand Filed:    08.03.2011    
IPC:
G01S 7/481 (2006.01), G01S 17/66 (2006.01), G02B 26/08 (2006.01), F41H 13/00 (2006.01)
Applicants: RAYTHEON COMPANY [US/US]; 870 Winter Street Waltham, Massachusetts 02451-1449 (US) (For All Designated States Except US).
MOSIER, Daniel, J. [US/US]; (US) (For US Only).
VUKOBRATOVICH, Daniel [US/US]; (US) (For US Only).
TAYLOR, Byron B. [US/US]; (US) (For US Only).
PARK, David, J. [US/US]; (US) (For US Only).
DENNEY, Dwight, L. [US/US]; (US) (For US Only).
JENKINS, David, G. [US/US]; (US) (For US Only).
RUTKOWSKI, John, R. [US/US]; (US) (For US Only).
AHMAD, Anees [US/US]; (US) (For US Only)
Inventors: MOSIER, Daniel, J.; (US).
VUKOBRATOVICH, Daniel; (US).
TAYLOR, Byron B.; (US).
PARK, David, J.; (US).
DENNEY, Dwight, L.; (US).
JENKINS, David, G.; (US).
RUTKOWSKI, John, R.; (US).
AHMAD, Anees; (US)
Agent: MANNING, Timothy, E.; Renner, Otto, Boisselle & Sklar, LLP 1621 Euclid Ave., 19th Fl. Cleveland, Ohio 44115 (US)
Priority Data:
12/437,864 08.05.2009 US
Title (EN) A HIGH ENERGY LASER BEAM DIRECTOR SYSTEM AND METHOD
(FR) SYSTÈME DIRECTEUR DE FAISCEAU LASER DE HAUTE ÉNERGIE ET PROCÉDÉ
Abstract: front page image
(EN)A beam director subsystem (12) and method for use in a weapons system. The beam director subsystem includes a source (20) of electromagnetic radiation for generating a high energy laser (HEL) beam (18). The electromagnetic radiation is directed to a secondary mirror (22) that reflects the electromagnetic radiation to a primary mirror (24) for output of the HEL beam. The secondary mirror is generally curved and expands the electromagnetic radiation received from the source prior to outputting the HEL beam from the primary mirror. The subsystem further includes a track telescope (28) coupled to the housing. The track telescope has a track detector (30) configured to receive electromagnetic radiation originating from the HEL and electromagnetic radiation emitted from an illuminator (32) and reflected from an airborne target.
(FR)L'invention concerne un sous-système directeur de faisceau (12) et un procédé destinés à être utilisés dans un système d'arme. Le sous-système directeur de faisceau comprend une source (20) de rayonnement électromagnétique destiné à générer un faisceau laser de haute énergie (HEL) (18). Le rayonnement électromagnétique est dirigé vers un miroir secondaire (22) qui réfléchit le rayonnement électromagnétique vers un miroir primaire (24) pour l'émission du faisceau HEL. Le miroir secondaire est généralement incurvé et propage le rayonnement électromagnétique reçu en provenance de la source avant l'émission du faisceau HEL à partir du miroir primaire. Le sous-système comprend en outre un télescope de poursuite (28) couplé au logement. Le télescope de poursuite présente un détecteur de traces (30) conçu pour recevoir un rayonnement électromagnétique provenant du HEL et un rayonnement électromagnétique émis à partir d'un illuminateur (32) et réfléchi à partir d'une cible aérienne.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)