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1. (WO2010137373) LIGHT INTERFERENCE TOMOGRAM ACQUIRING DEVICE, PROBE USED FOR LIGHT INTERFERENCE TOMOGRAM ACQUIRING DEVICE, AND LIGHT INTERFERENCE TOMOGRAM ACQUIRING METHOD
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2010/137373    International Application No.:    PCT/JP2010/053413
Publication Date: 02.12.2010 International Filing Date: 03.03.2010
IPC:
G01N 21/17 (2006.01), A61B 1/00 (2006.01)
Applicants: Konica Minolta Opto, Inc. [JP/JP]; 2970, Ishikawa-machi, Hachioji-shi, Tokyo 1928505 (JP) (For All Designated States Except US).
NAGAI Fumio [JP/JP]; (JP) (For US Only)
Inventors: NAGAI Fumio; (JP)
Priority Data:
2009-129206 28.05.2009 JP
Title (EN) LIGHT INTERFERENCE TOMOGRAM ACQUIRING DEVICE, PROBE USED FOR LIGHT INTERFERENCE TOMOGRAM ACQUIRING DEVICE, AND LIGHT INTERFERENCE TOMOGRAM ACQUIRING METHOD
(FR) DISPOSITIF D'ACQUISITION DE TOMOGRAMMES PAR INTERFÉRENCES LUMINEUSES, SONDE UTILISÉE AVEC LEDIT DISPOSITIF ET PROCÉDÉ D'ACQUISITION DE TOMOGRAMMES PAR INTERFÉRENCES LUMINEUSES
(JA) 光干渉断層画像取得装置、光干渉断層画像取得装置に用いるプローブ及び光干渉断層画像取得方法
Abstract: front page image
(EN)Disclosed is a light interference tomogram acquiring device enabling formation of a light interference tomogram with a high image quality by effectively eliminating the influence of reflection of the measurement light from a reflective surface of a focusing optical system from the light interference tomogram even though the light interference tomogram acquiring device has a simple configuration. A probe used for light interference tomogram acquiring devices and a light interference tomogram acquiring method are also disclosed. The reference optical path length from a coupler (BS)to a reference mirror (RM) is longer than the measurement optical path length from the coupler (BS) to the focus position (FP) of the subject (S). With this, even if pulse-shape waveforms (WS1, WS2) are produced by the interference between the reflected light from both surfaces of a parallel plate (PP) and the reference light, a waveform (WS3) representing a tissue of the subject (S) and a signal can be separated, the coherence of the waveform (WS3) acquired in a position near the origin is good, and the SN ratio of the signal is high. Therefore, a tomogram with high accuracy can be formed on the basis thereof.
(FR)La présente invention concerne un dispositif d'acquisition de tomogrammes par interférences lumineuses permettant l'obtention d'un tomogramme par interférences lumineuses présentant une bonne qualité d'image grâce à l'élimination de l'influence, sur le tomogramme par interférences lumineuses, de la réflexion de la lumière de mesure par une surface réfléchissante d'un système optique de focalisation, alors même que ce dispositif d'acquisition de tomogrammes par interférences lumineuses est de configuration simple. L'invention concerne également une sonde utilisée avec ces dispositifs d'acquisition de tomogrammes par interférences lumineuses et un procédé d'acquisition de tomogrammes par interférences lumineuses. La longueur du parcours optique de référence depuis un coupleur (BS) et jusqu'à un miroir de référence (RM) est plus importante que la longueur du parcours optique de mesure depuis le coupleur (BS) et jusqu'à la position de focalisation (FP) du sujet (S). Ainsi, même si les formes d'onde des impulsions (WS1, WS2) sont produites par l'interférence entre la lumière réfléchie par les deux surfaces d'un plateau parallèle (PP) et la lumière de référence, une forme d'onde (WS3) représentant un tissu du sujet (S) et un signal peuvent être séparés, la cohérence de la forme d'onde (WS3) acquise en un point proche de l'origine est bonne et le rapport SN du signal est élevé. On peut ainsi obtenir un tomogramme de haute précision.
(JA) 本発明は、簡素な構成でありながら、集光光学系の反射面からの測定光の反射の影響を光干渉断層画像から有効に取り除いて、高画質な光干渉断層画像を形成することが出来る光干渉断層画像取得装置、光干渉断層画像取得装置に用いるプローブ及び光干渉断層画像取得方法を提供する。 カプラBSから参照ミラーRMまでの参照光路長を、カプラBSから被検体Sの集光位置FPまでの測定光路長より長くしている。これにより、平行平板PPの両面からの反射光が、参照光と干渉することによって、パルス状の波形WS1,WS2が生じたとしても、被検体Sの組織を示す波形WS3と信号を分離でき、かつ原点に近い位置で取得される波形WS3は可干渉性が良好で信号のSN比が大きくなるため、これにも基づいて精度の良い断層画像を形成できることとなる。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)