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1. (WO2010136439) METHOD TO DETERMINE THE SATIN-EFFECT ON METAL PLATED SUBSTRATES
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2010/136439    International Application No.:    PCT/EP2010/057135
Publication Date: 02.12.2010 International Filing Date: 25.05.2010
Chapter 2 Demand Filed:    25.03.2011    
IPC:
G01N 21/57 (2006.01)
Applicants: ATOTECH DEUTSCHLAND GmbH [DE/DE]; Erasmusstrasse 20 10553 Berlin (DE) (For All Designated States Except US).
NEUMANN, Stefan [DE/DE]; (DE) (For US Only)
Inventors: NEUMANN, Stefan; (DE)
Agent: WONNEMANN, Jörg; Atotech Deutschland GmbH Erasmusstrasse 20 10553 Berlin (DE)
Priority Data:
09161012.1 25.05.2009 EP
Title (EN) METHOD TO DETERMINE THE SATIN-EFFECT ON METAL PLATED SUBSTRATES
(FR) PROCÉDÉ PERMETTANT DE DÉTERMINER L'EFFET SATIN SUR DES SUBSTRATS MÉTALLISÉS
Abstract: front page image
(EN)Subject of the present application is a method to determine the satin-effect on metal plated substrates comprising the following steps: i) irradiate the sample with light, ii) detect the intensity distribution of the scattered light, iii) determine at least one of the following parameters: - the Aq value of the intensity distribution, wherein the Aq value represents the variance of the backscattered light angle (φi) multiplied with the device constant k and - the integrated intensity of the intensity distribution, iv) compare the at least one parameter to a target value.
(FR)L'invention concerne un procédé permettant de déterminer l'effet satin sur des substrats métallisés, consistant à : i) exposer l'échantillon à la lumière, ii) détecter la répartition de l'intensité de la lumière diffusée, iii) déterminer au moins un des paramètres suivants : -la valeur Aq de la répartition de l'intensité, la valeur Aq représentant la variance de l'angle de la lumière rétrodiffusée ( ϕi) multipliée par la constante de dispositif k et -l'intensité intégrée de la répartition de l'intensité, iv) comparer le ou les paramètres à une valeur cible.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)