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1. (WO2010136310) CIRCUIT ARRANGEMENT AND METHOD FOR TEMPERATURE MEASUREMENT
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.: WO/2010/136310 International Application No.: PCT/EP2010/056119
Publication Date: 02.12.2010 International Filing Date: 05.05.2010
Chapter 2 Demand Filed: 04.03.2011
IPC:
G01K 7/24 (2006.01) ,G01K 3/00 (2006.01) ,H03M 1/46 (2006.01)
Applicants: JESSENIG, Thomas[AT/AT]; AT (UsOnly)
AUSTRIAMICROSYSTEMS AG[AT/AT]; Schloss Premstätten A-8141 Unterpremstätten, AT (AllExceptUS)
Inventors: JESSENIG, Thomas; AT
Agent: EPPING HERMANN FISCHER PATENTANWALTSGESELLSCHAFT MBH; Zusammenschluss Nr. 175 Ridlerstraße 55 80339 München, DE
Priority Data:
10 2009 023 354.729.05.2009DE
Title (EN) CIRCUIT ARRANGEMENT AND METHOD FOR TEMPERATURE MEASUREMENT
(FR) CIRCUIT ET PROCÉDÉ DE MESURE DE TEMPÉRATURE
(DE) SCHALTUNGSANORDNUNG UND VERFAHREN ZUR TEMPERATURMESSUNG
Abstract: front page image
(EN) A circuit arrangement for temperature measurement comprises an input for connecting a temperature-sensitive element (T) that is connected to a first input of a comparator (C). A reference voltage (Vref) is connected to a second input of the comparator (C). Furthermore, the arrangement comprises a sequential logic (SL) that is coupled to an output of the comparator (C) and that comprises a first output (A1) and a second output (A2). A digitally controllable switch element (DS) for providing a superposition signal is connected to the output (A1) of the sequential logic and the first input of the comparator (C).
(FR) L'invention concerne un circuit de mesure de température qui comprend une entrée destinée à raccorder un élément (T) sensible à la température relié à une première entrée d'un comparateur (C). Une tension de référence (Vref) est reliée à une deuxième entrée du comparateur (C). Par ailleurs, une logique séquentielle (SL) est couplée à une sortie du comparateur (C) et comporte une première sortie (A1) et une deuxième sortie (A2). Un élément de commutation (DS) à commande numérique délivre un signal de superposition et est relié à la sortie (A1) de la logique séquentielle et à la première entrée du comparateur (C).
(DE) Eine Schaltungsanordnung zur Temperaturmessung umfasst einen Eingang zum Anschließen eines temperatursensitiven Elementes (T), der mit einem ersten Eingang eines Komparators (C) verbunden ist. Eine Referenzspannung (Vref), die mit einem zweiten Eingang des Komparators (C) verbunden ist. Des Weiteren eine sequentielle Logik (SL), die an einen Ausgang des Komparators (C) gekoppelt ist und einen ersten Ausgang (A1) und zweiten Ausgang (A2) umfasst. Ein digital steuerbares Schaltelement (DS) zum Bereitstellen eines Überlagerungssignals, das mit dem Ausgang (A1) der sequentiellen Logik und dem ersten Eingang des Komparators (C) verbunden ist.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Office (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Publication Language: German (DE)
Filing Language: German (DE)