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1. (WO2010124284) METHODS FOR MAPPING DATA INTO LOWER DIMENSIONS
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2010/124284    International Application No.:    PCT/US2010/032420
Publication Date: 28.10.2010 International Filing Date: 26.04.2010
IPC:
G06K 9/62 (2006.01)
Applicants: VIRKAR, Hemant [US/US]; (US).
STARK, Karen [US/US]; (US) (For US Only).
BORGMAN, Jacob [US/US]; (US) (For US Only)
Inventors: VIRKAR, Hemant; (US).
STARK, Karen; (US).
BORGMAN, Jacob; (US)
Agent: RUSSELL, Dawn, C.; Arent Fox LLP 1050 Connecticut Avenue, N.W., Ste. 400 Washington, DC 20036-5339 (US)
Priority Data:
61/172,380 24.04.2009 US
Title (EN) METHODS FOR MAPPING DATA INTO LOWER DIMENSIONS
(FR) PROCÉDÉS POUR MAPPER DES DONNÉES À DES DIMENSIONS INFÉRIEURES
Abstract: front page image
(EN)Methods and systems for creating ensembles of hypersurfaces in high-dimensional feature spaces, and to machines and systems relating thereto. More specifically, exemplary aspects of the invention relate to methods and systems for generating supervised hypersurfaces based on user domain expertise, machine learning techniques, or other supervised learning techniques. These supervised hypersurfaces may optionally be combined with unsupervised hypersurfaces derived from unsupervised learning techniques. Lower-dimensional subspaces may be determined by the methods and systems for creating ensembles of hypersurfaces in high- dimensional feature spaces. Data may then be projected onto the lower-dimensional subspaces for use, e.g., in further data discovery, visualization for display, or database access. Also provided are tools, systems, devices, and software implementing the methods, and computers embodying the methods and/or running the software, where the methods, software, and computers utilize various aspects of the present invention relating to analyzing data.
(FR)La présente invention concerne des procédés et des systèmes pour créer des ensembles d'hypersurfaces dans des espaces présentant une caractéristique de haute dimension et des machines et des systèmes associés. Plus particulièrement, des aspects de l'invention, fournis à titre d'exemple, concernent des procédés et des systèmes destinés à générer des hypersurfaces surveillées sur la base d'une expertise de domaine utilisateur, de techniques d'apprentissage machine ou d'autres techniques d'apprentissage surveillées. Ces hypersurfaces surveillées peuvent être, en option, combinées à des hypersurfaces non surveillées dérivées de techniques d'apprentissage sans surveillance. Des sous-espaces de dimension inférieure peuvent être déterminés par les procédés et les systèmes pour créer des ensembles d'hypersurfaces dans des espaces présentant une caractéristique de haute dimension. Des données peuvent être projetées sur les sous-espaces à dimension inférieure pour être utilisées, par exemple, dans une découverte de données plus approfondie, dans une visualisation d'écran ou pour un accès à une base de données. La présente invention propose également des outils, des systèmes, des dispositifs et un logiciel implémentant les procédés ainsi que des ordinateurs mettant en œuvre les procédés et/ou exécutant le logiciel, les procédés, le logiciel et les ordinateurs utilisant différents aspects de la présente invention concernant l'analyse de données.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)