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1. (WO2010121775) METHOD AND DEVICE FOR MONITORING THE INTENSITY OF AN ELECTRON BEAM
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.: WO/2010/121775 International Application No.: PCT/EP2010/002396
Publication Date: 28.10.2010 International Filing Date: 20.04.2010
IPC:
H01J 37/244 (2006.01) ,H01J 37/304 (2006.01) ,H01J 33/02 (2006.01) ,B65B 55/08 (2006.01) ,A61L 2/08 (2006.01)
Applicants: KEIL, Gernot[DE/DE]; DE (UsOnly)
MONZEL, Alois[DE/DE]; DE (UsOnly)
KHS GMBH[DE/DE]; Juchostrasse 20 44143 Dortmund, DE (AllExceptUS)
Inventors: KEIL, Gernot; DE
MONZEL, Alois; DE
Priority Data:
10 2009 018 210.121.04.2009DE
Title (EN) METHOD AND DEVICE FOR MONITORING THE INTENSITY OF AN ELECTRON BEAM
(FR) PROCÉDÉ ET DISPOSITIF DE CONTRÔLE DE L'INTENSITÉ D'UN FAISCEAU ÉLECTRONIQUE
(DE) VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR ÜBERWACHUNG DER INTENSITÄT EINES ELEKTRONENSTRAHLS
Abstract: front page image
(EN) The method and the device are used to monitor the intensity of an electron beam. In order to detect changes in intensity of the electron beam, electromagnetic radiation directly or indirectly emitted by the electron beam is detected and evaluated. This particularly refers to the evaluation of ultraviolet radiation and/or radiation in the range of visible light.
(FR) L'invention concerne un procédé et un dispositif servant au contrôle de l'intensité d'un faisceau électronique. Dans le but de détecter des variations d'intensité d'un faisceau électronique, on détecte et on évalue un rayonnement électromagnétique émis directement ou indirectement par un faisceau électronique. L'invention s'applique en particulier à l'évaluation de rayonnements ultraviolets et/ou de rayonnements dans la zone de la lumière visible.
(DE) Das Verfahren und die Vorrichtung dienen zur Überwachung der Intensität eines Elektronenstrahles. Zur Erkennung von Änderungen der Intensität des Elektronenstrahles wird eine vom Elektronenstrahl direkt oder indirekt emittierte elektromagnetische Strahlung detektiert und ausgewertet. Insbesondere ist an die Auswertung von Ultraviolett-Strahlung und/oder Strahlung im Bereich des sichtbaren Lichtes gedacht.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Office (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (EPO) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Publication Language: German (DE)
Filing Language: German (DE)