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1. (WO2010120409) APPARATUS AND METHOD FOR VIRTUAL FLAW REMOVAL FROM X-RAY SENSITIVE PLATES
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2010/120409    International Application No.:    PCT/US2010/026136
Publication Date: 21.10.2010 International Filing Date: 04.03.2010
IPC:
A61B 6/12 (2006.01), A61B 6/00 (2006.01)
Applicants: APTERYX, INC. [US/US]; 313 S. High Street Suite 200 Akron, Ohio 44308 (US) (For All Designated States Except US).
CRUCS, Kevin M. [US/US]; (US) (For US Only)
Inventors: CRUCS, Kevin M.; (US)
Agent: MUZILLA, David J.; One GOJO Plaza Suite 300 Akron, Ohio 44311 (US)
Priority Data:
12/425,028 16.04.2009 US
Title (EN) APPARATUS AND METHOD FOR VIRTUAL FLAW REMOVAL FROM X-RAY SENSITIVE PLATES
(FR) APPAREIL ET PROCÉDÉ DESTINÉS À L'ÉLIMINATION DE DÉFAUT VIRTUEL DE PLAQUES SENSIBLES AUX RAYONS X
Abstract: front page image
(EN)A system (1100), a method, and computer readable media for generating a corrected image (1040) from image information (1030) extracted from an X-ray sensitive plate (1010). First, flaw map image information (1020) is extracted from an X-ray sensitive plate (1010) in order to determine any flaws (1021) (e.g., scratches) on the plate (1010). Then the plate (1010) is exposed to capture physical image information (1030) (e.g., anatomical information) and the physical image information (1030) is extracted from the plate (1010). The flaw map information (1020) is used to identify corresponding flaws (1021) in the extracted physical image information (1030). Image processing is performed to correct the flaws (1021) (e.g., due to scratches on the X-ray sensitive plate) in the physical image information (1030) to form a corrected physical image (1040).
(FR)La présente invention concerne un système (1100), un procédé et un support lisible sur ordinateur, destinés à générer une image corrigée (1040) à partir d'informations d'image (1030) extraites d'une plaque sensible aux rayons X (1010). Les informations de l'image de la carte des défauts (1020) sont d'abord extraites d'une plaque sensible aux rayons X (1010) afin de déterminer tout défaut (1021) (par ex., des rayures) présent sur la plaque (1010). La plaque (1010) est ensuite exposée pour capturer des informations sur l'image physique (1030) (par ex., des informations anatomiques) et les informations sur l'image physique (1030) sont extraites de la plaque (1010). Les informations de la carte des défauts (1020) sont utilisées pour identifier les défauts correspondants (1021) dans les informations extraites de l'image physique (1030). Le traitement de l'image est effectué pour corriger les défauts (1021) (dus, par exemple, aux rayures sur la plaque sensible aux rayons X) dans les informations sur l'image physique (1030) pour former une image physique corrigée (1040).
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)