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1. (WO2010119841) SOLAR CELL PANEL INSPECTING APPARATUS, SOLAR CELL PANEL INSPECTING METHOD, AND SOLAR CELL PANEL MANUFACTURING METHOD
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2010/119841    International Application No.:    PCT/JP2010/056530
Publication Date: 21.10.2010 International Filing Date: 12.04.2010
IPC:
H01L 31/04 (2006.01)
Applicants: SHARP KABUSHIKI KAISHA [JP/JP]; 22-22, Nagaike-cho, Abeno-ku, Osaka-shi, Osaka 5458522 (JP) (For All Designated States Except US).
TACHIBANA, Shinsuke; (For US Only).
SHIMIZU, Akira; (For US Only)
Inventors: TACHIBANA, Shinsuke; .
SHIMIZU, Akira;
Agent: FUKAMI, Hisao; Fukami Patent Office, p.c., Nakanoshima Central Tower, 2-7, Nakanoshima 2-chome, Kita-ku, Osaka-shi, Osaka 5300005 (JP)
Priority Data:
2009-099217 15.04.2009 JP
Title (EN) SOLAR CELL PANEL INSPECTING APPARATUS, SOLAR CELL PANEL INSPECTING METHOD, AND SOLAR CELL PANEL MANUFACTURING METHOD
(FR) APPAREIL D'INSPECTION DE PANNEAU SOLAIRE, PROCÉDÉ D'INSPECTION DE PANNEAU SOLAIRE ET PROCÉDÉ DE FABRICATION DE PANNEAU SOLAIRE
(JA) 太陽電池パネル検査装置、太陽電池パネル検査方法および太陽電池パネルの製造方法
Abstract: front page image
(EN)A solar cell panel inspecting apparatus includes: a transparent insulating substrate (2) having a main surface (2u); and a transparent electrode layer (3), a semiconductor photoelectric conversion layer (4) and a rear surface electrode layer (5), which are laminated in sequence. The apparatus inspects insulation performance of an outer circumferential insulating region (21) with respect to a solar cell panel (100) having the outer circumferential insulating region (21) from which the main surface (2u) is exposed. The apparatus is provided with: a first terminal (31) which abuts on the rear surface electrode layer (5); a second terminal (32) which abuts on the vicinity of the outer circumferential end of the outer circumferential insulating region (21); one or more third terminals (33, 33a, 33b, 33c) which abut on the outer circumferential insulating region (21) between the first terminal (31) and the second terminal (32); a voltage applying section (34) which applies a voltage to between each pair of terminals selected from among the terminals; and a current detecting section (35) which detects a current flowing between each pair of terminals between which the voltage has been applied.
(FR)La présente invention concerne un appareil d'inspection de panneau solaire comprenant : un substrat isolant transparent (2) comportant une surface principale (2u), ainsi qu'une couche d'électrode transparente (3), une couche de conversion photoélectrique semi-conductrice (4) et une couche d'électrode de surface arrière (5) qui sont stratifiées séquentiellement. L'appareil inspecte les performances d'isolation d'une région isolante circonférentielle externe (21) par rapport à un panneau solaire (100) comportant la région isolante circonférentielle externe (21) et dont la surface principale (2u) est exposée. L'appareil comprend : une première borne (31) qui aboutit sur la couche d'électrode de surface arrière (5); une deuxième borne (32) qui aboutit au voisinage de l'extrémité circonférentielle externe de la région isolante circonférentielle externe (21); une ou plusieurs troisièmes bornes (33, 33a, 33b, 33c) qui aboutissent sur la région isolante circonférentielle externe (21) entre la première borne (31) et la deuxième borne (32); une section d'application de tension (34) qui applique une tension entre chaque paire de bornes choisies parmi les bornes; et une section de détection de courant (35) qui détecte le courant circulant entre chaque paire de bornes entre lesquelles a été appliquée la tension.
(JA) 太陽電池パネル検査装置は、主表面(2u)を有する透明絶縁基板(2)と、順次積層された透明電極層(3)、半導体光電変換層(4)および裏面電極層(5)とを含み、主表面(2u)が露出する外周絶縁領域(21)を有する太陽電池パネル(100)に対して、外周絶縁領域(21)の絶縁性能を検査するための装置であって、裏面電極層(5)に当接させるための第1端子(31)と、外周絶縁領域(21)の外周端近傍に当接させるための第2端子(32)と、第1端子(31)と第2端子(32)との間において外周絶縁領域(21)に当接させるための1以上の第3端子(33,33a,33b,33c)と、これらの端子のうちから選択される2端子間にそれぞれ電圧を印加するための電圧印加部(34)と、電圧を印加した前記2端子の間に流れる電流を検出する電流検出部(35)とを備える。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)