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1. (WO2010119633) OPTICAL IMAGE MEASURING DEVICE AND METHOD FOR CONTROLLING SAME
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2010/119633    International Application No.:    PCT/JP2010/002427
Publication Date: 21.10.2010 International Filing Date: 02.04.2010
IPC:
G01N 21/17 (2006.01), A61B 3/14 (2006.01)
Applicants: KABUSHIKI KAISHA TOPCON [JP/JP]; 75-1 Hasunuma-cho, Itabashi-ku, Tokyo 1748580 (JP) (For All Designated States Except US).
SHIBUTANI, Masahiro [JP/JP]; (JP) (For US Only)
Inventors: SHIBUTANI, Masahiro; (JP)
Agent: MISAWA PATENT OFFICE, p.c.; Nippan Bldg., 15-8, Nishishinjuku 7-chome, Shinjuku-ku, Tokyo 1600023 (JP)
Priority Data:
2009-101176 17.04.2009 JP
Title (EN) OPTICAL IMAGE MEASURING DEVICE AND METHOD FOR CONTROLLING SAME
(FR) DISPOSITIF OPTIQUE DE MESURE D'IMAGE ET SON PROCÉDÉ DE COMMANDE
(JA) 光画像計測装置及びその制御方法
Abstract: front page image
(EN)Disclosed is an optical image measuring device which enables detection of interference light and formation of a tomogram in parallel with each other. The device is provided with a control unit (210) for scanning the eye (E) to be examined with a signal light beam while changing the directions of galvanometer mirrors (141A, 141B), an OCT unit (150) for detecting interference light, an image forming unit (220) for forming a tomogram of the eye (E) to be e examined, and an abnormality detecting unit(250) for detecting an abnormality of the tomogram, if any, on the basis of the image state of the formed tomogram. The abnormality detecting unit (250) performs abnormality detection each time a predetermined number of frames of the tomogram are obtained. If an abnormality is detected, the control unit (210) stops the change of the directions of the galvanometer mirrors (141A, 141B), and the OCT unit (150) resumes the detection of interference light from the state in which the directions are the ones when the change is stopped.
(FR)Dispositif optique de mesure d'image permettant de détecter une lumière d'interférence et la formation d'un tomogramme parallèlement l'une à l'autre. Le dispositif comprend : une unité de commande (210) pour le balayage de l'œil (E) à examiner au moyen d'un faisceau lumineux de signal pendant la modification des directions de miroirs de galvanomètre (141A, 141B) ; une unité OCT (150) pour la détection de lumière d'interférence ; une unité de formation d'image (220) pour la formation d'un tomogramme de l'œil (E) à examiner, et une unité de détection d'anomalies (250) pour la détection d'une anomalie sur le tomogramme, le cas échéant, à partir de l'état de l'image du tomogramme formé. Cette unité de détection d'anomalies (250) intervient chaque fois qu'un nombre prédéterminé de trames est obtenu. En cas de détection d'une anomalie, l'unité de commande (210) stoppe le changement de direction des miroirs de galvanomètre (141A, 141B) et l'unité OCT (150) reprend la détection de lumière d'interférence à partir de l'état des directions lorsque le changement de ces directions a été stoppé.
(JA) 干渉光の検出と断層画像の形成とを並行して行う光画像計測装置を提供する。ガルバノミラー141A、141Bの向きを変更しながら被検眼Eに対して信号光を走査させる制御部210と、干渉光を検出するOCTユニット150と、被検眼Eの断層画像を形成する画像形成部220と、形成した断層画像の画像状態を基に該断層画像の異常を検出する異常検出部250と、を備え、異常検出部250は、所定フレーム分の前記断層画像が得られる度毎に異常検出を行い、異常検出時に、制御部210はガルバノミラー141A、141Bの向きの変更を停止し、OCTユニット150は停止した向きから干渉光の検出を再度開始する。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)