WIPO logo
Mobile | Deutsch | Español | Français | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Search International and National Patent Collections
World Intellectual Property Organization
Search
 
Browse
 
Translate
 
Options
 
News
 
Login
 
Help
 
Machine translation
1. (WO2010118011) INVARIANTS-BASED LEARNING METHOD AND SYSTEM FOR FAILURE DIAGNOSIS IN LARGE SCALE COMPUTING SYSTEMS
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2010/118011    International Application No.:    PCT/US2010/030079
Publication Date: 14.10.2010 International Filing Date: 06.04.2010
IPC:
G06F 11/07 (2006.01), G06F 11/28 (2006.01), G06F 11/34 (2006.01)
Applicants: NEC LABORATORIES AMERICA, INC. [US/US]; 4 Independence Way Suite 200 Princeton, New Jersey 08540 (US) (For All Designated States Except US)
Inventors: CHEN, Haifeng; (US).
JIANG, Guofei; (US).
YOSHIHIRA, Kenji; (US).
SAXENA, Akhliesh; (US)
Agent: KOLODKA, Joseph; NEC Laboratories America, Inc. 4 Independence Way Suite 200 Princeton, New Jersey 08540 (US)
Priority Data:
61/168,056 09.04.2009 US
12/754,572 05.04.2010 US
Title (EN) INVARIANTS-BASED LEARNING METHOD AND SYSTEM FOR FAILURE DIAGNOSIS IN LARGE SCALE COMPUTING SYSTEMS
(FR) PROCÉDÉ D'APPRENTISSAGE À BASE D'INVARIANTS ET SYSTÈME DE DIAGNOSTIC DE DÉFAILLANCE DANS DES SYSTÈMES INFORMATIQUES À GRANDE ÉCHELLE
Abstract: front page image
(EN)A method system for diagnosing a detected failure in a computer system, compares a failure signature of the detected failure to an archived failure signature contained in a database to determine if the archived failure signature matches the failure signature of the detected failure. If the archived failure signature matches the failure signature of the detected failure, an archived solution is applied to the computer system that resolves the detected failure, the archived solution corresponding to a solution used to resolve a previously detected computer system failure corresponding to the archived failure signature in the database that matches the detected failure.
(FR)Un procédé et un système pour diagnostiquer une défaillance détectée dans un système informatique comparent une signature de défaillance de la défaillance détectée à une signature de défaillance archivée contenue dans une base de données pour déterminer si la signature de défaillance archivée correspond à la signature de défaillance de la défaillance détectée. Si la signature de défaillance archivée correspond à la signature de défaillance de la défaillance détectée, une solution archivée est appliquée au système informatique qui résout la défaillance détectée, la solution archivée correspondant à une solution utilisée pour résoudre une défaillance de système informatique précédemment détectée correspondant à la signature de défaillance archivée dans la base de données qui correspond à la défaillance détectée.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)