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1. (WO2010089480) OPTIMISED CALCULATION METHOD FOR A RAY CONCENTRATION DEVICE, IN PARTICULAR SOLAR RAYS, AND RESULTING RAY CONCENTRATOR
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.: WO/2010/089480 International Application No.: PCT/FR2010/000086
Publication Date: 12.08.2010 International Filing Date: 05.02.2010
IPC:
G06F 17/50 (2006.01) ,H01L 31/052 (2006.01)
Applicants: GOURIO-JEWELL, Pierre-Guillaume[FR/FR]; FR (UsOnly)
LACROIX, Yves[FR/FR]; FR (UsOnly)
UNIVERSITE DU SUD TOULON VAR[FR/FR]; BP20132 F-83957 la garde cedex 20, FR (AllExceptUS)
Inventors: GOURIO-JEWELL, Pierre-Guillaume; FR
LACROIX, Yves; FR
Agent: NONNENMACHER, Bernard; GLOBAL INVENTIONS 38, Allée Valériane-Domaine de la Tour F-83700 Saint Raphael, FR
Priority Data:
09/0050106.02.2009FR
Title (EN) OPTIMISED CALCULATION METHOD FOR A RAY CONCENTRATION DEVICE, IN PARTICULAR SOLAR RAYS, AND RESULTING RAY CONCENTRATOR
(FR) PROCÉDÉ DE CALCUL OPTIMISÉ D'UN DISPOSITIF DE CONCENTRATION DE RAYONS, NOTAMMENT DE RAYONS SOLAIRES, ET CONCENTRATEUR DE RAYONS AINSI OBTENU
Abstract:
(EN) The invention relates to a method for calculating the shape of a concentrator for concentring radiation from at least one source in a two- or three-dimensional space, said concentrator being rigidly connected to a holder and comprising a radiation reflector having a reflecting shape (FR) extending in a reflection area (ZR), as well as a radiation sensor having a pick-up shape (FC) extending in a radiation pick-up area (ZC). The calculation method of the invention is characterised in that it comprises the steps of: defining a set of input parameters representative of the radiation propagation between said at least one source, the reflection area (ZR), and the pick-up area (ZC); modifying said input parameters during a simulation period using discrete values and simulating the emission of a radiation from said source towards the concentrator; for each set of input parameter values corresponding to an impact on the sensor of the emitted simulated radiation, storing the corresponding input parameters and the impact energy so as to generate, for each configuration of the input parameters, a history of the impacts on the sensor on the basis of time; defining a function of the input and output parameters used for establishing a score representative of the current configuration of the reflector and the sensor; digitally optimising said input parameters in order to maximise said score; storing the geometry of the optimal shape (FR) of the reflector and the geometry of the optimal shape (FR) of the sensor (FC) corresponding to the highest score obtained during the simulation period.
(FR) L'invention concerne un procédé de calcul de la forme d'un concentrateur de rayonnement provenant d'au moins une source placée dans un espace de dimension 2 ou 3, ledit concentrateur étant solidaire d'un support et comportant d'une part un réflecteur du rayonnement ayant une forme réfléchissante notée FR et s'étendant dans une zone de réflexion notée ZR, et comportant d'autre part un capteur de rayonnement ayant une forme de captage notée FC et s'étendant dans une zone de captage du rayonnement notée ZC. Le procédé de calcul selon l'invention est caractérisé en ce qu'il comporte des étapes consistant à: - définir un ensemble de paramètres d'entrée représentatifs de la propagation du rayonnement entre ladite au moins une source, la zone de réflexion ZR et la zone de captage ZC; - faire varier par valeurs discrètes lesdits paramètres d'entrée pendant une période de simulation, et simuler l'émission d'un rayonnement à partir de ladite source vers le concentrateur; - pour chaque ensemble de valeurs des paramètres d'entrée correspondant à un impact sur le capteur du rayonnement simulé émis, mémoriser les paramètres d'entrée correspondants, ainsi que l'énergie de l'impact, de façon à constituer pour chaque configuration des paramètres d'entrée, un historique des impacts sur le capteur en fonction du temps; - définir une fonction des paramètres d'entrée et de sortie qui serve d'établissement d'un score représentatif de la configuration courante du réflecteur et du capteur; - optimiser numériquement lesdits paramètres d'entrée de façon à maximiser ledit score; - enregistrer la géométrie de la forme optimale FR du réflecteur, et la géométrie de la forme optimale FC du capteur, correspondant au score le plus élevé obtenu pendant la période de simulation.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Office (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (EPO) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Publication Language: French (FR)
Filing Language: French (FR)