Search International and National Patent Collections
Some content of this application is unavailable at the moment.
If this situation persists, please contact us atFeedback&Contact
1. (WO2010073785) SPECTROMETER
Latest bibliographic data on file with the International Bureau

Pub. No.: WO/2010/073785 International Application No.: PCT/JP2009/066544
Publication Date: 01.07.2010 International Filing Date: 24.09.2009
IPC:
G01N 21/01 (2006.01) ,G01N 21/63 (2006.01)
G PHYSICS
01
MEASURING; TESTING
N
INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21
Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using infra-red, visible, or ultra-violet light
01
Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation
G PHYSICS
01
MEASURING; TESTING
N
INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21
Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using infra-red, visible, or ultra-violet light
62
Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
63
optically excited
Applicants:
浜松ホトニクス株式会社 HAMAMATSU PHOTONICS K.K. [JP/JP]; 静岡県浜松市東区市野町1126番地の1 1126-1, Ichino-cho, Higashi-ku, Hamamatsu-shi, Shizuoka 4358558, JP (AllExceptUS)
井口 和也 IGUCHI Kazuya [JP/JP]; JP (UsOnly)
鈴木 健吾 SUZUKI Kengo [JP/JP]; JP (UsOnly)
Inventors:
井口 和也 IGUCHI Kazuya; JP
鈴木 健吾 SUZUKI Kengo; JP
Agent:
長谷川 芳樹 HASEGAWA Yoshiki; 東京都千代田区丸の内二丁目1番1号 丸の内 MY PLAZA(明治安田生命ビル)9階 創英国際特許法律事務所 SOEI PATENT AND LAW FIRM, Marunouchi MY PLAZA (Meiji Yasuda Life Bldg.) 9th fl., 1-1, Marunouchi 2-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1000005, JP
Priority Data:
2008-32785224.12.2008JP
Title (EN) SPECTROMETER
(FR) SPECTROMÈTRE
(JA) 分光測定装置
Abstract:
(EN) A spectrometer equipped with: an integrating sphere (20) in which a sample (S) to be examined is placed and the light to be emitted from the sample (S) is examined; and a Dewar vessel (50) in which a refrigerant (R) for cooling the sample (S) is held and which is located so that at least part of the vessel (50) faces the inside of the integrating sphere (20).  The gas generated from the refrigerant (R) is led into the integrating sphere (20) through given gaps (G1 to G6), which function as gas introduction passages, and through a plurality of communicating passages (64) formed in a supporting base (61).  The gas led into the integrating sphere (20) absorbs moisture present in the integrating sphere (20) and lowers the temperature of the internal atmosphere of the integrating sphere (20).  That part of a second container part (50b) of the Dewar vessel (50) which is exposed to the inside of the integrating sphere (20) is thus prevented from suffering dew condensation.  Even when the sample (S) cooled to a desired temperature is examined, dew condensation can hence be prevented.
(FR) L'invention concerne un spectromètre équipé d'une sphère d'intégration (20), ladite sphère contenant un échantillon (S) à examiner et la lumière émise de l'échantillon (S) étant examinée ; et d'un vase de Dewar (50) contenant un réfrigérant (R) pour refroidir l'échantillon (S) placé de sorte qu'au moins une partie du récipient (50) se trouve face à la partie intérieure de la sphère d'intégration (20). Le gaz généré du réfrigérant (R) est amené dans la sphère d'intégration (20) à travers des espaces donnés (G1 à G6), qui fonctionnent en tant que passages d'introduction de gaz, et à travers une pluralité de passages de communication (64) formés dans une base de support (61). Le gaz amené dans la sphère d'intégration (20) absorbe l'humidité présente dans la sphère d'intégration (20) et abaisse la température de l'atmosphère interne de la sphère d'intégration (20). Cette partie d'une seconde partie de récipient (50b) du vase Dewar (50) qui est exposée à la partie intérieure de la sphère d'intégration (20) est ainsi protégée de la condensation d'humidité. Même lorsque l'échantillon(S) refroidi à une température souhaitée est examiné, la condensation d'humidité peut ainsi être évitée.
(JA)  分光測定装置は、測定対象の試料Sが内部に配置され、試料Sから発せられる被測定光を観測する積分球20と、試料Sを冷却するための冷媒Rを保持すると共に、少なくとも一部が積分球20内に臨むように位置するデュワ50とを備えている。冷媒Rから発生したガスは、ガス導入路として機能する所定の間隙G1~G6及び支持台61に形成された複数の連通路64を通って、積分球20内に導入される。積分球20内に導入されたガスは、積分球20内の水分を吸収し、積分球20内の温度を低下させ、デュワ50の第2容器部50bにおける積分球20内に露出している部分に結露が生じるのを防ぐ。これにより、所望の温度に冷却した状態の試料Sを測定する場合でも、結露の発生を防ぐことができる。
front page image
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)
Also published as:
EP2320212US20110235035CN102265133CN103323405KR1020110102869