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1. (WO2010073778) SPECTROMETER, SPECTROMETRY, AND SPECTROMETRY PROGRAM
Latest bibliographic data on file with the International Bureau

Pub. No.: WO/2010/073778 International Application No.: PCT/JP2009/065660
Publication Date: 01.07.2010 International Filing Date: 08.09.2009
IPC:
G01N 21/63 (2006.01) ,G01J 3/443 (2006.01)
G PHYSICS
01
MEASURING; TESTING
N
INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21
Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using infra-red, visible, or ultra-violet light
62
Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
63
optically excited
G PHYSICS
01
MEASURING; TESTING
J
MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRA-RED, VISIBLE OR ULTRA-VIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
3
Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
28
Investigating the spectrum
443
Emission spectrometry
Applicants:
浜松ホトニクス株式会社 HAMAMATSU PHOTONICS K.K. [JP/JP]; 静岡県浜松市東区市野町1126番地の1 1126-1, Ichino-cho, Higashi-ku, Hamamatsu-shi, Shizuoka 4358558, JP (AllExceptUS)
渡邉 元之 WATANABE Motoyuki [JP/JP]; JP (UsOnly)
井口 和也 IGUCHI Kazuya [JP/JP]; JP (UsOnly)
鈴木 健吾 SUZUKI Kengo [JP/JP]; JP (UsOnly)
Inventors:
渡邉 元之 WATANABE Motoyuki; JP
井口 和也 IGUCHI Kazuya; JP
鈴木 健吾 SUZUKI Kengo; JP
Agent:
長谷川 芳樹 HASEGAWA Yoshiki; 東京都千代田区丸の内二丁目1番1号 丸の内 MY PLAZA (明治安田生命ビル)9階  創英国際特許法律事務所 SOEI PATENT AND LAW FIRM Marunouchi MY PLAZA (Meiji Yasuda Life Bldg.) 9th fl. 1-1, Marunouchi 2-chome Chiyoda-ku, Tokyo 1000005, JP
Priority Data:
2008-33034925.12.2008JP
Title (EN) SPECTROMETER, SPECTROMETRY, AND SPECTROMETRY PROGRAM
(FR) SPECTROMÈTRE, SPECTROMÉTRIE ET PROGRAMME DE SPECTROMÉTRIE
(JA) 分光測定装置、分光測定方法、及び分光測定プログラム
Abstract:
(EN) A spectrometer (1A) is configured from an integrating sphere (20) in which a sample (S) is placed, a spectrometer (30) for dispersing the light to be measured from the sample (S) and thereby acquiring a wavelength spectrum, and a data analysis device (50). The analysis device (50) includes an object region setting unit for setting in the wavelength spectrum a first object region corresponding to the exciting light and a second object region corresponding to the light emitted from the sample (S) and a sample information analyzing unit for determining the emission quantum yield of the sample (S). The analysis device (50) determines a measured value φ0 of the emission quantum yield from the results of reference measurement and sample measurement and determines, using coefficients β and γ relating to the stray light in the reference measurement and an expression φ=βφ0+γ, an analysis value φ of the emission quantum yield on which the influence of the stray light is reduced. Thus, the spectrometer, spectrometry, and spectrometry program enabling reduction of the influence of the stray light produced in the spectrograph is provided.
(FR) L'invention concerne un spectromètre (1A) configuré à partir d'une sphère intégratrice (20) dans laquelle un échantillon (S) est placé, d'un spectromètre (30) servant à disperser la lumière à mesurer à partir de l'échantillon (S) et à acquérir ainsi un spectre de longueurs d'onde, et d'un dispositif (50) d'analyse de données. Le dispositif (50) d'analyse comprend une unité de spécification de régions objet servant à spécifier, dans le spectre de longueurs d'onde, une première région objet correspondant à la lumière d'excitation et une deuxième région objet correspondant à la lumière émise à partir de l'échantillon (S), ainsi qu'une unité d'analyse d'informations d'échantillon servant à déterminer le rendement quantique d'émission de l'échantillon (S). Le dispositif (50) d'analyse détermine une valeur mesurée φ0 du rendement quantique d'émission à partir des résultats de mesure de référence et de mesure de l'échantillon, et détermine, à l'aide de coefficients β et γ relatifs à la lumière parasite dans la mesure de référence et d'une expression φ=βφ0+γ, une valeur d'analyse φ du rendement quantique d'émission sur laquelle l'influence de la lumière parasite est réduite. On obtient ainsi un spectromètre, une spectrométrie et un programme de spectrométrie permettant une réduction de l'influence de la lumière parasite produite dans le spectrographe.
(JA)  試料Sが内部に配置される積分球20と、試料Sからの被測定光を分光して波長スペクトルを取得する分光分析装置30と、データ解析装置50とを備えて分光測定装置1Aを構成する。解析装置50は、波長スペクトルにおいて励起光に対応する第1対象領域、及び試料Sからの発光に対応する第2対象領域を設定する対象領域設定部と、試料Sの発光量子収率を求める試料情報解析部とを有し、リファレンス測定及びサンプル測定の結果から発光量子収率の測定値Φ0を求めるとともに、リファレンス測定での迷光に関する係数β、γを用い、Φ=βΦ0+γによって迷光の影響を低減した発光量子収率の解析値Φを求める。これにより、分光器内で発生する迷光の影響を低減することが可能な分光測定装置、測定方法、及び測定プログラムが実現される。
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Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)
Also published as:
EP2381240US20110255085CN102187203KR1020110102866