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1. (WO2010073504) AUTOMATIC ANALYZER
Latest bibliographic data on file with the International Bureau

Pub. No.: WO/2010/073504 International Application No.: PCT/JP2009/006614
Publication Date: 01.07.2010 International Filing Date: 04.12.2009
IPC:
G01N 35/00 (2006.01) ,G01N 35/04 (2006.01)
G PHYSICS
01
MEASURING; TESTING
N
INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
35
Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/-G01N33/148; Handling materials therefor
G PHYSICS
01
MEASURING; TESTING
N
INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
35
Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/-G01N33/148; Handling materials therefor
02
using a plurality of sample containers moved by a conveyer system past one or more treatment or analysis stations
04
Details of the conveyer system
Applicants:
株式会社 日立ハイテクノロジーズ HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION [JP/JP]; 東京都港区西新橋一丁目24番14号 24-14, Nishi Shinbashi 1-chome, Minato-ku, Tokyo 1058717, JP (AllExceptUS)
山澤和方 YAMAZAWA, Kazunori [JP/JP]; JP (UsOnly)
田中佳幸 TANAKA, Yoshiyuki [JP/JP]; JP (UsOnly)
坂詰卓 SAKAZUME, Taku [JP/JP]; JP (UsOnly)
Inventors:
山澤和方 YAMAZAWA, Kazunori; JP
田中佳幸 TANAKA, Yoshiyuki; JP
坂詰卓 SAKAZUME, Taku; JP
Agent:
井上学 INOUE, Manabu; 東京都千代田区丸の内一丁目6番1号 株式会社 日立製作所内 C/O HITACHI,LTD., 6-1, Marunouchi 1-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1008220, JP
Priority Data:
2008-33182826.12.2008JP
Title (EN) AUTOMATIC ANALYZER
(FR) ANALYSEUR AUTOMATIQUE
(JA) 自動分析装置
Abstract:
(EN) Provided is a system wherein a single automatic analyzer parallel performs different measurement sequences, and has a checking function of avoiding double use of a mechanical facility and interference between operations, the mechanical facility has multiple modes to operate a transporting mechanism for transporting a reaction vessel, and the degradation of the throughput is lessened to the minimum by switching between the modes as necessary. Before start of the measurement sequence of a requested examination item, the use state of the mechanical facility is checked.  If the use timings are judged to be doubly set, the start of the measurement of the examination item is postponed.  Therefore, double use is avoided, and correct analysis can be performed.  A logic for preceding the start of an item not causing double use of the facility when there are multiple requested examination items is provided, and therefore efficient analysis can be performed.
(FR) La présente invention concerne un système dans lequel un analyseur automatique unique exécute en parallèle différentes séquences de mesure, ledit analyseur possédant une fonction de vérification visant à éviter la double utilisation d'une installation mécanique ainsi que les interférences entre opérations, l'installation mécanique présentant plusieurs modes pour faire fonctionner un mécanisme de transport servant à transporter un récipient de réaction et l'invention permettant de réduire au minimum la dégradation du rendement en commutant entre les modes lorsque nécessaire. Avant le démarrage de la séquence de mesure d'un élément à examiner demandé, l'état d'utilisation de l'installation mécanique est vérifié. Si les périodes d'utilisation sont jugées comme ayant été doublement établies, le démarrage de la mesure de l'élément à examiner est reporté. La double utilisation est ainsi évitée, et une analyse correcte peut être exécutée. On dispose ainsi d'une logique précédant le démarrage d'un élément et visant à éviter une double utilisation de l'installation en cas de multiples éléments à examiner demandés, et on peut ainsi exécuter une analyse efficace.
(JA)  一つの自動分析装置で異なる複数の測定シーケンスを逐次並行的に動作させることを可能とし、かつ機構設備の重複使用や動作干渉をさけるチェック機能を持つとともに、さらにこれらの機構設備に反応容器を搬送させるための搬送機構の動作方式を複数もたせ、必要に応じて切替えることによりスループットの低下を最小限に抑えるしくみを提供すること。 依頼された検査項目の測定シーケンスの開始前に機構設備使用状況のチェックを行い、使用タイミングが重なると判断された場合には、その検査項目の測定開始を先送りすることにより、重複を避け、正しい分析が行える。また、複数の検査項目依頼がある場合、設備の使用重複が発生しない項目を優先して開始させる論理を搭載することにより、効率的な分析を行うことができる。
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African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)
Also published as:
US20110293477CN102265164DE112009003798IN4476/DELNP/2011