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1. (WO2010073502) AUTOMATIC ANALYSIS DEVICE
Latest bibliographic data on file with the International Bureau

Pub. No.: WO/2010/073502 International Application No.: PCT/JP2009/006612
Publication Date: 01.07.2010 International Filing Date: 04.12.2009
IPC:
G01N 35/02 (2006.01) ,G01N 35/04 (2006.01)
G PHYSICS
01
MEASURING; TESTING
N
INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
35
Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/-G01N33/148; Handling materials therefor
02
using a plurality of sample containers moved by a conveyer system past one or more treatment or analysis stations
G PHYSICS
01
MEASURING; TESTING
N
INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
35
Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/-G01N33/148; Handling materials therefor
02
using a plurality of sample containers moved by a conveyer system past one or more treatment or analysis stations
04
Details of the conveyer system
Applicants:
株式会社 日立ハイテクノロジーズ HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION [JP/JP]; 東京都港区西新橋一丁目24番14号 24-14, Nishi Shinbashi 1-chome, Minato-ku, Tokyo 1058717, JP (AllExceptUS)
圷正志 AKUTSU, Masashi [JP/JP]; JP (UsOnly)
松原茂樹 MATSUBARA, Shigeki [JP/JP]; JP (UsOnly)
高木由充 TAKAGI, Yoshimitsu [JP/JP]; JP (UsOnly)
時枝仁 TOKIEDA, Hitoshi [JP/JP]; JP (UsOnly)
Inventors:
圷正志 AKUTSU, Masashi; JP
松原茂樹 MATSUBARA, Shigeki; JP
高木由充 TAKAGI, Yoshimitsu; JP
時枝仁 TOKIEDA, Hitoshi; JP
Agent:
井上学 INOUE, Manabu; JP
Priority Data:
2008-32899825.12.2008JP
Title (EN) AUTOMATIC ANALYSIS DEVICE
(FR) DISPOSITIF D'ANALYSE AUTOMATIQUE
(JA) 自動分析装置
Abstract:
(EN) Disclosed is an automatic analysis device that makes it possible to rapidly process additional testing requests that arise for a specimen being analyzed, or anomalies that arise in a specimen. An automatic analysis device has functions to output measurement results for an analyzed specimen, determine whether remeasurement is necessary, and implement remeasurement. To achieve these functions, there is a buffer area for holding a rack until the specimen has been analyzed and the measurement results have been output Each analysis unit has a pair of buffer units that are able to randomly access this buffer area, and a position is reserved near this buffer area where specimens can be withdrawn and re-introduced. When an operator issues a remove instruction from an operating part, a rack in which said specimen has been loaded, which has been waiting in the buffer area, is removed to the aforementioned withdrawal position. By performing the necessary operations on and re-introducing said specimen from the removed rack, it is possible to continue analysis on specimens other than said specimen.
(FR) L'invention concerne un dispositif d'analyse automatique qui permet de traiter rapidement des demandes de test supplémentaires qui se présentent pour un échantillon en cours d'analyse, ou des anomalies qui apparaissent dans un échantillon. Un dispositif d'analyse automatique a pour fonctions de délivrer des résultats de mesure pour un échantillon analysé, de déterminer si une nouvelle mesure est nécessaire et d'effectuer une nouvelle mesure. Pour réaliser ces fonctions, il existe une zone tampon pour maintenir un présentoir jusqu'à ce que l'échantillon ait été analysé et que les résultats de mesure aient été délivrés. Chaque unité d'analyse comporte deux unités tampons qui sont capables d'accéder de manière aléatoire à cette zone tampon, et une position est réservée à proximité de cette zone tampon où des échantillons peuvent être retirés et réintroduits. Lorsqu'un opérateur émet une instruction de retrait d'une partie de travail, un présentoir dans lequel ledit échantillon a été chargé, qui était en attente dans la zone tampon, est retiré vers la position de retrait susmentionnée. En exécutant les opérations nécessaires sur ledit échantillon et en le réintroduisant du présentoir retiré, il est possible de poursuivre l'analyse sur des échantillons autres que ledit échantillon.
(JA)  分析中の検体に生じた追加検査依頼項目や、検体に生じた異常に対して、迅速に処理を施すことが可能な自動分析装置を提供する。  自動分析装置は、分析された検体の測定結果が出力され、再度測定が要か判定し、再測定を実施する機能を持つ。この機能の実現のために、分析し、測定結果が出力されるまで待機するためのバッファ領域がある。このバッファ領域へランダムにアクセスが可能なバッファユニットを各分析ユニットに対で持たせ、このバッファ領域の付近に、検体の取り出し、かつ、再投入可能なポジションを確保する。オペレータが操作部上で排出指示を発行することにより、バッファ領域内で待機している、該検体を搭載したラックを、前記取り出しポジションに排出する。排出されたラック上から、該検体に対して必要な操作を行い、再投入することで、該検体以外の検体の分析を継続することが可能である。
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African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)
Also published as:
US20110256022CN102265165DE112009003793