Search International and National Patent Collections
Some content of this application is unavailable at the moment.
If this situation persists, please contact us atFeedback&Contact
Latest bibliographic data on file with the International Bureau

Pub. No.: WO/2010/073479 International Application No.: PCT/JP2009/006209
Publication Date: 01.07.2010 International Filing Date: 19.11.2009
G01N 35/00 (2006.01)
Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/-G01N33/148; Handling materials therefor
株式会社 日立ハイテクノロジーズ HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION [JP/JP]; 東京都港区西新橋一丁目24番14号 24-14, Nishi Shinbashi 1-chome, Minato-ku, Tokyo 1058717, JP (AllExceptUS)
李晴 LI, Qing [CN/JP]; JP (UsOnly)
三村智憲 MIMURA, Tomonori [JP/JP]; JP (UsOnly)
福薗真一 FUKUZONO, Shinichi [JP/JP]; JP (UsOnly)
石井尚実 ISHII, Naomi [JP/JP]; JP (UsOnly)
李晴 LI, Qing; JP
三村智憲 MIMURA, Tomonori; JP
福薗真一 FUKUZONO, Shinichi; JP
石井尚実 ISHII, Naomi; JP
井上学 INOUE, Manabu; JP
Priority Data:
(JA) 精度管理方法
(EN) Although it seems useful and convenient to inspection practices to determine the variation pattern of the accuracy management result based on the operation event of a clinical laboratory and detect the abnormal variation pattern before the management range is exceeded, there is not such an accuracy management system.  In order to estimate the cause of the variation of the accuracy management result or the calibration result, specialized knowledge and experience are depended on since there is no sufficient relevant information.  Time and effort are required to organize the information by separating useful and useless information. Provided is a comprehensive accuracy management method which involves: displaying operation event information in time sequence on the same screen as the chart of the accuracy management result or the calibration result; storing a characteristic ordinary measurement value variation pattern that corresponds to the contents of the operation event; overlapping and displaying the ordinary measurement value variation pattern and the variation pattern of the latest measurement result to thereby warn of a variation different from the ordinary measurement value variation pattern; and estimating and reporting the cause of the variation.
(FR) Selon l'invention, bien qu'il semble utile et pratique pour des pratiques d'inspection de déterminer le motif de variation du résultat de gestion de précision sur la base de l'évènement d'utilisation d'un laboratoire clinique et de détecter le motif de variation anormal avant que la plage de gestion ne soit dépassée, il n'existe pas de tel système de gestion de précision. Afin d'estimer la cause de la variation du résultat de gestion de précision ou du résultat d'étalonnage, il est nécessaire de dépendre d'une connaissance et d'une expérience spécialisées étant donné qu'il n'y a pas d'informations pertinentes suffisantes. Du temps et des efforts sont nécessaires pour organiser les informations en séparant les informations utiles des informations inutiles. L'invention porte donc sur un procédé de gestion de précision complet qui entraîne : l'affichage d'informations d'évènement d'utilisation en séquence temporelle sur le même écran que le graphique du résultat de gestion de précision ou du résultat d'étalonnage ; le stockage d'un motif de variation de valeur de mesure ordinaire caractéristique qui correspond au contenu de l'évènement d'utilisation ; le chevauchement et l'affichage du motif de variation de valeur de mesure ordinaire et du motif de variation du résultat de mesure le plus récent pour ainsi avertir d'une variation différente du motif de variation de valeur de mesure ordinaire, et l'estimation et le rapport de la cause de la variation.
(JA)  臨床検査室の運用イベントに基づいた精度管理結果の変動パターンを判定し、管理範囲を超える前に、異常な変動パターンを探知することは、検査実務に有用かつ便利だと思われるが、そのような精度管理システムがない。精度管理結果またはキャリブレーション結果の変動原因を推定するために、十分な関連情報,専門な知識と経験に頼っている。有用と無用な情報を切り分けて、情報を整理するために、時間と手間を要している。  運用イベント情報を時系列に精度管理結果またはキャリブレーション結果の表示図を同一画面に表示させて、運用イベントの内容に合わせた特徴的な日常測定値変動パターンを蓄積し、最近の測定結果の変動パターンと重ね表示することで、日常測定値変動パターンと異なる変動を警告して、さらに変動原因を推定・レポートする総合的な精度管理方法を提供する。
front page image
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)
Also published as: