Search International and National Patent Collections
Some content of this application is unavailable at the moment.
If this situation persists, please contact us atFeedback&Contact
1. (WO2010072873) VARIABLE MAGNIFICATION SYSTEM FOR RADIOGRAPHIC AND TOMOGRAPHIC INSPECTION IN THE FIELD OF NON-DESTRUCTIVE TESTS
Latest bibliographic data on file with the International Bureau

Pub. No.: WO/2010/072873 International Application No.: PCT/ES2009/070593
Publication Date: 01.07.2010 International Filing Date: 16.12.2009
IPC:
G01N 23/02 (2006.01)
G PHYSICS
01
MEASURING; TESTING
N
INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
23
Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation not covered by group G01N21/ or G01N22/159
02
by transmitting the radiation through the material
Applicants:
UNIVERSIDADE DE SANTIAGO DE COMPOSTELA [ES/ES]; Centro de Innovación e Transferencia de Tecnoloxía Edificio EMPRENDIA Campus sur E-15782 Santiago de Compostela, ES (AllExceptUS)
ASOCIACION DE INVESTIGACION METALURGICA DEL NOROESTE (AIMEN) [ES/ES]; España, ES (AllExceptUS)
FRANCO FERREIRA, Lucia [ES/ES]; ES (UsOnly)
VIDAL VILARIÑO, Felix [ES/ES]; ES (UsOnly)
GÓMEZ RODRÍGUEZ, Faustino [ES/EE]; EE (UsOnly)
AMENEIRO RODRÍGUEZ, Ramon [ES/ES]; ES (UsOnly)
IGLESIAS LAGO, Alfredo [ES/ES]; ES (UsOnly)
TOVAL BARRERAS, Rafael [ES/ES]; ES (UsOnly)
Inventors:
FRANCO FERREIRA, Lucia; ES
VIDAL VILARIÑO, Felix; ES
GÓMEZ RODRÍGUEZ, Faustino; EE
AMENEIRO RODRÍGUEZ, Ramon; ES
IGLESIAS LAGO, Alfredo; ES
TOVAL BARRERAS, Rafael; ES
Priority Data:
P 2008 0370526.12.2008ES
Title (EN) VARIABLE MAGNIFICATION SYSTEM FOR RADIOGRAPHIC AND TOMOGRAPHIC INSPECTION IN THE FIELD OF NON-DESTRUCTIVE TESTS
(ES) SISTEMA DE MAGNIFICACIÓN VARIABLE PARA INSPECCIÓN RADIOGRÁFICA Y TOMOGRÁFICA EN EL CAMPO DE LOS ENSAYOS NO DESTRUCTIVOS.
(FR) SYSTÈME D'AGRANDISSEMENT VARIABLE POUR L'INSPECTION RADIOGRAPHIQUE ET TOMOGRAPHIQUE DANS LE DOMAINE DES ESSAIS NON DESTRUCTIFS
Abstract:
(EN) Variable magnification system for radiographic and tomographic inspection (1) in industrial applications, which system is composed of an ionizing radiation source (2), a linear array of elements for detecting scintillation (3), electronic cards for acquiring the signal from the detector (4) and an acquisition control card (5), an interface for emptying the digital data into a computer (6), a card for capturing data (18), two vertical benches which can move in a linear manner and have two supporting means for the source and the detector (7,8), a rotational bench with a support plate for the objects to be inspected (9,10), a horizontal linear bench (11) placed between the radiation source and the detector, and a PID control module (12). The horizontal bench (11) makes it possible to vary the distance between the object to be inspected and the source, the magnification factor in the acquired images. Method for controlling the generation, acquisition, reconstruction and display of data, which method is associated with the system (1).
(ES) Sistema de magnificación variable para inspección radiográfica y tomográfica (1) en aplicaciones industriales compuesto de una fuente de radiación ionizante (2), una matriz lineal de elementos detectores de centelleo (3), tarjetas electrónicas de adquisición de la señal del detector (4) y una tarjeta de control de adquisición (5), interfaz de volcado de los datos digitales a un ordenador (6), tarjeta capturadora de datos (18), dos bancadas verticales de movimiento lineal con dos soportes para la fuente y el detector (7,8), bancada rotatoria con plato de soporte para los objetos a inspeccionar (9,10), bancada lineal horizontal (11) colocada entre la fuente de radiación y el detector, módulo de control PID (12). La bancada horizontal (11) permite variar la distancia entre el objeto a inspeccionar y la fuente, el factor de magnificación en las imágenes adquiridas. Procedimiento de control de generación, adquisición, reconstrucción y visualización de datos asociado al sistema (1).
(FR) La présente invention concerne un système d'agrandissement variable pour l'inspection radiographique et tomographique (1) qu'on utilise dans des applications industrielles, ce système étant constitué d'une source de rayonnement ionisant (2), d'une matrice linéaire d'éléments détecteurs de scintillement (3), de cartes électroniques d'acquisition du signal du détecteur (4) et d'une carte de commande d'acquisition (5), d'une interface de transfert des données numériques vers un ordinateur (6), d'une carte de capture de données (18), de deux éléments verticaux permettant le déplacement linéaire comportant deux supports pour la source et le détecteur (7,8), d'un élément rotatif comportant un plateau de support pour les objets à inspecter (9,10), d'un élément linéaire horizontal (11) situé entre la source de rayonnement et le détecteur, d'un module de commande PID (12). L'élément horizontal (11) permet de faire varier la distance entre l'objet à inspecter et la source, c'est-à-dire le facteur d'agrandissement dans les images acquises. La présente invention concerne également un procédé de commande de génération, d'acquisition, de reconstruction et de visualisation de données qui est associé au système (1).
front page image
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Publication Language: Spanish (ES)
Filing Language: Spanish (ES)