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1. (WO2010072816) METHOD FOR 3D MEASUREMENT OF THE SURFACE OF AN OBJECT, IN PARTICULAR FOR DENTAL PURPOSES
Latest bibliographic data on file with the International Bureau

Pub. No.: WO/2010/072816 International Application No.: PCT/EP2009/067861
Publication Date: 01.07.2010 International Filing Date: 23.12.2009
Chapter 2 Demand Filed: 11.10.2010
IPC:
G01B 11/25 (2006.01) ,G01B 21/04 (2006.01)
G PHYSICS
01
MEASURING; TESTING
B
MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
11
Measuring arrangements characterised by the use of optical means
24
for measuring contours or curvatures
25
by projecting a pattern, e.g. moiré fringes, on the object
G PHYSICS
01
MEASURING; TESTING
B
MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
21
Measuring arrangements or details thereof in so far as they are not adapted to particular types of measuring means of the other groups of this subclass
02
for measuring length, width, or thickness
04
by measuring coordinates of points
Applicants:
SIRONA DENTAL SYSTEMS GMBH [DE/DE]; Fabrikstr. 31 64625 Bensheim, DE (AllExceptUS)
SCHWOTZER, Axel [DE/DE]; DE (UsOnly)
KLEIN, Konrad [DE/DE]; DE (UsOnly)
Inventors:
SCHWOTZER, Axel; DE
KLEIN, Konrad; DE
Agent:
SOMMER, Peter; Augustaanlage 32 68165 Mannheim, DE
Priority Data:
10 2008 055 158.924.12.2008DE
Title (DE) VERFAHREN ZUR 3D-VERMESSUNG DER OBERFLÄCHE EINES OBJEKTS, INSBESONDERE FÜR ZAHNMEDIZINISCHE ZWECKE
(EN) METHOD FOR 3D MEASUREMENT OF THE SURFACE OF AN OBJECT, IN PARTICULAR FOR DENTAL PURPOSES
(FR) PROCÉDÉ DE MESURE EN TROIS DIMENSIONS DE LA SURFACE D'UN OBJET, EN PARTICULIER POUR DES BUTS EN DENTISTERIE
Abstract:
(DE) Zur 3D-Vermessung der Oberflache eines Objekts mittels optischer Doppeltriangulation unter Verwendung des Phasenschiebeverfahrens, insbesondere für zahnmedizinische Zwecke werden mindestens zwei 3D-Vermessungen desselben Objekts (1) mit unterschiedlichen Triangluationswinkeln (θ1, θ2), von denen der erste bekannt und der zweite zumindest näherungsweise bekannt ist, durchgeführt. Für jeden Bildpunkt (B1) des Phasenbildes (φ1(x, y) ) wird unter Verwendung des zweiten Phasenbildes (φ2 (x, y) ) eine Wellenzahl (Wz (xi, yi) ) bestimmt, deren ganzzahliger Anteil der Ordnung (n) des Eindeutigkeitsbereichs (E1) entspricht, in dem sich der jeweilige Bildpunkt (B1) befindet. Eine Optimierung dieser Wellenzahl (wz (x, y) ) erfolgt dahingehend, dass, zumindest für eine Stichprobe von m Bildpunkten (B1) ein nicht ganzzahliger Anteil der Wellenzahl ( wz (xi, yi) - [ wz (xi, yi) ] ) minimiert wird.
(EN) For the purposes of 3D measurement of the surface of an object using optical Doppler triangulation utilizing the phase shift method, in particular for dental purposes, at least two 3D measurements of the same object (1) are carried out at different triangulation angles (θ1, θ2), the first angle of which is known and the second of which is at least approximately known. For each image point (B1) of the phase image (φ1(x, y) ), a wave number (Wz (xi, yi) ) is determined using the second phase image (φ2 (x, y) ), the whole number portion of said wave number corresponding to the order (n) of the unambiguous range (E1) in which the respective image point (B1) is located. Said wave number (wz (x, y)) is optimized by minimizing a non whole-number portion of the wave number ( wz (xi, yi) - [ wz (xi, yi) ] ) at least for a random sample of m image points (B1).
(FR) Pour mesurer en trois dimensions la surface d'un objet au moyen d'une double triangulation optique avec utilisation d'un procédé à déphasage, en particulier pour des buts en dentisterie, on conduit au moins deux mesures en trois dimensions du même objet (1) avec des angles de triangulation (θ1, θ2) différents, le premier étant connu et le second étant connu au moins approximativement. Pour chaque point d'image (B1) de l'image de phase (φ1(x, y)), un nombre d'onde (Wz (xi, yi)) est déterminé par utilisation de la deuxième image de phase (φ2 (x, y)), nombre d'onde dont la partie entière correspond à l'ordre (n) du domaine de clarté (E1), dans lequel se trouve le point d'image respectif (B1). Une optimisation de ce nombre d'onde (wz (x, y)) est obtenue en le sens qu'au moins une partie non entière pour un échantillon de m points d'image (B1) du nombre d'onde (wz(xi, yi) - [wz(xi, yi)]) est rendue minimale.
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Publication Language: German (DE)
Filing Language: German (DE)
Also published as:
EP2382442JP2012514192US20110311105