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1. WO2010058441 - TEST EQUIPMENT, TEST METHOD, AND PROGRAM

Publication Number WO/2010/058441
Publication Date 27.05.2010
International Application No. PCT/JP2008/003395
International Filing Date 19.11.2008
IPC
G01R 31/319 2006.01
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
317Testing of digital circuits
3181Functional testing
319Tester hardware, i.e. output processing circuits
G11C 29/56 2006.01
GPHYSICS
11INFORMATION STORAGE
CSTATIC STORES
29Checking stores for correct operation; Testing stores during standby or offline operation
56External testing equipment for static stores, e.g. automatic test equipment ; Interfaces therefor
CPC
G01R 31/3193
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
317Testing of digital circuits
3181Functional testing
319Tester hardware, i.e. output processing circuit
3193with comparison between actual response and known fault free response
G11C 29/50012
GPHYSICS
11INFORMATION STORAGE
CSTATIC STORES
29Checking stores for correct operation ; ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
04Detection or location of defective memory elements ; , e.g. cell constructio details, timing of test signals
50Marginal testing, e.g. race, voltage or current testing
50012of timing
G11C 29/56
GPHYSICS
11INFORMATION STORAGE
CSTATIC STORES
29Checking stores for correct operation ; ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
56External testing equipment for static stores, e.g. automatic test equipment [ATE]; Interfaces therefor
G11C 29/56012
GPHYSICS
11INFORMATION STORAGE
CSTATIC STORES
29Checking stores for correct operation ; ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
56External testing equipment for static stores, e.g. automatic test equipment [ATE]; Interfaces therefor
56012Timing aspects, clock generation, synchronisation
Applicants
  • 株式会社アドバンテスト ADVANTEST CORPORATION [JP]/[JP] (AllExceptUS)
  • 坂井満 SAKAI, Mitsuru [JP]/[JP] (UsOnly)
Inventors
  • 坂井満 SAKAI, Mitsuru
Agents
  • 龍華明裕 RYUKA, Akihiro
Priority Data
Publication Language Japanese (JA)
Filing Language Japanese (JA)
Designated States
Title
(EN) TEST EQUIPMENT, TEST METHOD, AND PROGRAM
(FR) ÉQUIPEMENT DE TEST, PROCÉDÉ DE TEST ET PROGRAMME
(JA) 試験装置、試験方法、および、プログラム
Abstract
(EN)
Test equipment comprises a phase control unit for sequentially changing the relative phases of the input/output data of a device under test and a predetermined strobe signal toward a predetermined single direction; an expected value comparing unit for determining a predetermined number of times at each relative phase whether a value obtained by sampling the input/output data using the strobe signal matches a predetermined expected value or not; a phase detection unit for detecting a first relative phase in which a failure state transits to a pass state and a second relative phase in which the pass state transits to the failure state, wherein the failure state indicates that at least one of the determination results of the predetermined number of times shows mismatch and the pass state indicates that all the determination results of the predetermined number of times show match; a phase adjusting unit for adjusting, based on the first and second relative phases detected by the phase detection unit, the phase of a test signal supplied to the device under test; and a test unit for testing the device under test using the test signal, the phase of which has been adjusted by the phase adjusting unit. This reduces time required for timing training.
(FR)
L'invention concerne un équipement de test comportant une unité de commande de phase servant à modifier séquentiellement les phases relatives des données d’entrée / sortie d’un dispositif en cours de test et d'un signal d’échantillonnage prédéterminé dans une direction unique prédéterminée ; une unité de comparaison de valeurs prévues servant à déterminer un nombre prédéterminé de fois à chaque phase relative si une valeur obtenue en échantillonnant les données d’entrée / sortie à l’aide du signal d’échantillonnage correspond ou non à une valeur prévue prédéterminée ; une unité de détection de phase servant à détecter une première phase relative où un état d’échec évolue vers un état de validation et une deuxième phase relative où l’état de validation évolue vers l’état d’échec, l’état d’échec indiquant qu’au moins un des résultats de détermination du nombre prédéterminé de fois présente un désaccord et l’état de validation indiquant que tous les résultats de détermination du nombre prédéterminé de fois présentent une concordance ; une unité d’ajustement de phase servant à ajuster, sur la base des première et deuxième phases relatives détectées par l’unité de détection de phase, la phase d’un signal de test appliqué au dispositif en cours de test ; et une unité de test servant à tester le dispositif en cours de test à l’aide du signal de test dont la phase a été ajustée par l’unité d’ajustement de phase. Il en résulte une réduction du temps nécessaire pour l’apprentissage du minutage.
(JA)
 被試験デバイスの入出力データ、および、所定のストローブ信号の相対位相を、所定の1方向に順次変化させる位相制御部と、ストローブ信号で入出力データをサンプリングした値が、所定の期待値と一致するか否かを、それぞれの相対位相において所定回数ずつ判定する期待値比較部と、所定回数の判定結果の少なくとも一つが不一致を示すフェイル状態から、所定回数の判定結果の全てが一致を示すパス状態に遷移する第1の相対位相、および、パス状態からフェイル状態に遷移する第2の相対位相を検出する位相検出部と、位相検出部が検出した第1の相対位相および第2の相対位相に基づいて、被試験デバイスに供給する試験信号の位相を調整する位相調整部と、位相調整部により位相が調整された試験信号を用いて、被試験デバイスを試験する試験部とを試験装置に備えることにより、タイミングトレーニングに要する時間を短縮する。
Also published as
Latest bibliographic data on file with the International Bureau