(EN) An apparatus for analyzing a sample, the apparatus comprising a first clamping chuck adapted for receiving a first portion of the sample, a second clamping chuck adapted for receiving a second portion of the sample, a first measurement unit adapted for measuring an oscillation, particularly a self-oscillation, of the sample and being coupled to the first clamping chuck, and a second measurement unit adapted for measuring the oscillation of the sample and being coupled to the second clamping chuck, wherein the first measurement unit is coupled to the first clamping chuck and the second measurement unit is coupled to the second clamping chuck so that measurement signals captured by the first measurement unit and by the second measurement unit are indicative of the oscillation along the sample.
(FR) La présente invention concerne un appareil destiné à l'analyse d'un échantillon. Cet appareil comprend, d'une part un premier mandrin de serrage conçu pour recevoir une première partie de l'échantillon, ainsi qu'un second mandrin de serrage conçu pour recevoir une seconde partie de l'échantillon, d'autre part un premier module de mesure, qui est conçu pour mesurer une oscillation de l'échantillon, en particulier une oscillation interne spontanée, et qui est couplé au premier mandrin de serrage, et enfin un second module de mesure, qui est conçu pour mesurer l'oscillation de l'échantillon, et qui est couplé au second mandrin de serrage. En l'occurrence, le premier module de mesure est couplé au premier mandrin de serrage et le second module de mesure est couplé au second mandrin de serrage de façon que les signaux de mesure capturés par le premier module de mesure et le second module de mesure soient représentatifs de l'oscillation se produisant dans la longueur de l'échantillon.