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1. (WO2010033113) METHOD FOR DETECTING DEFECT IN MATERIAL AND SYSTEM FOR THE METHOD
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2010/033113    International Application No.:    PCT/US2008/076598
Publication Date: 25.03.2010 International Filing Date: 17.09.2008
IPC:
G01N 25/72 (2006.01)
Applicants: NIPPON STEEL CORPORATION [JP/JP]; 6-1, Marunouchi2-chome Chiyoda-ku Tokyo, 100-8071 (JP) (For All Designated States Except US).
NAKAGAWA, Junichi [JP/JP]; (JP) (For US Only).
ITO, Tadayuki [JP/JP]; (JP) (For US Only).
NISHIYAMA, Tetsuo [JP/JP]; (JP) (For US Only).
DOKI, Masahiro [JP/JP]; (JP) (For US Only).
SAITO, Kozo [JP/US]; (US) (For US Only).
GHARAIBEH, Belal [JO/US]; (US) (For US Only).
CHUAH, Keng Hoo [MY/US]; (US) (For US Only).
SALAIMEH, Ahmad [JO/US]; (US) (For US Only).
YAMAMOTO, Masahiro [JP/JP]; (JP) (For US Only).
TAKEUCHI, Tomoya [JP/JP]; (JP) (For US Only).
ITO, Kazufumi [JP/US]; (US) (For US Only).
HUANG, Huaxiong [CA/CA]; (CA) (For US Only).
BOHUN, Sean, C. [CA/CA]; (CA) (For US Only)
Inventors: NAKAGAWA, Junichi; (JP).
ITO, Tadayuki; (JP).
NISHIYAMA, Tetsuo; (JP).
DOKI, Masahiro; (JP).
SAITO, Kozo; (US).
GHARAIBEH, Belal; (US).
CHUAH, Keng Hoo; (US).
SALAIMEH, Ahmad; (US).
YAMAMOTO, Masahiro; (JP).
TAKEUCHI, Tomoya; (JP).
ITO, Kazufumi; (US).
HUANG, Huaxiong; (CA).
BOHUN, Sean, C.; (CA)
Agent: WEINER, Marc S.; Birch, Stewart, Kolasch & Birch, LLP 8110 Gatehouse Road, 100 East Falls Church, Virginia 22042 (US)
Priority Data:
Title (EN) METHOD FOR DETECTING DEFECT IN MATERIAL AND SYSTEM FOR THE METHOD
(FR) PROCÉDÉ DE DÉTECTION D'UN DÉFAUT DANS UN MATÉRIAU ET SYSTÈME POUR LE PROCÉDÉ
Abstract: front page image
(EN)A defect on the surface or in the surface layer of a moving material can be detected by using a method comprising steps of: heating the surface of the material, obtaining thermal image data of the surface of the material using an infrared thermography camera while the surface of the material is being heated up at the heating step or being cooled down after heating, and detecting the defect by calculating Laplacian with respect to temperature of the surface represented by the thermal image data. When the thermal image data is obtained while the material is being heated up, a heating device and the camera is arranged so that thermal energy emitted from the heating device is reflected by the material to come into the camera.
(FR)Selon l'invention, un défaut sur la surface ou dans la couche de surface d'un matériau mobile peut être détecté à l'aide d'un procédé consistant : à chauffer la surface du matériau, à obtenir des données d'image thermique de la surface du matériau à l'aide d'une caméra de thermographie à infrarouge pendant que la surface du matériau est chauffée à l'étape de chauffage ou est refroidie après chauffage, et à détecter le défaut par calcul du Laplacien par rapport à une température de la surface représentée par les données d'image thermique. Lorsque les données d'image thermique sont obtenues pendant que le matériau est chauffé, un dispositif chauffant et la camera sont agencés de telle sorte qu'une énergie thermique émise à partir du dispositif chauffant est réfléchie par le matériau pour venir à l'intérieur de la caméra.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)