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Pub. No.:    WO/2010/032792    International Application No.:    PCT/JP2009/066272
Publication Date: 25.03.2010 International Filing Date: 17.09.2009
G01B 11/245 (2006.01)
Applicants: OMRON Corporation [JP/JP]; 801, Minamifudodo-cho, Horikawahigashiiru, Shiokoji-dori, Shimogyo-ku, Kyoto-shi, Kyoto 6008530 (JP) (For All Designated States Except US).
ONISHI Yasuhiro [JP/JP]; (JP) (For US Only).
SUWA Masaki [JP/JP]; (JP) (For US Only).
SHO To [CN/JP]; (JP) (For US Only)
Inventors: ONISHI Yasuhiro; (JP).
SUWA Masaki; (JP).
SHO To; (JP)
Agent: SERA Kazunobu; (JP)
Priority Data:
2008-239114 18.09.2008 JP
(JA) 3次元計測装置およびその方法
Abstract: front page image
(EN)A three-dimensional measurement apparatus is provided with a plurality of cameras, a feature acquiring means which acquires from each of captured images a normal direction which is the physical feature of the surface of an object to be measured, a corresponding pixel searching means which searches pixels corresponding between the images by means of the physical feature, and a measuring means which three-dimensionally measures the object on the basis of a disparity between the corresponding pixels.  It is preferred to have a coordinate transformation means which transforms the normal direction of each image to a common coordinate system.  A parameter for the coordinate transformation can be calculated from a parameter obtained in camera calibration.  The three-dimensional measurement apparatus is capable of precisely measuring the three-dimensional shape of a mirror surface object without being influenced by the differences of the positions and characteristics of the cameras.
(FR)La présente invention concerne un appareil de mesure tridimensionnelle doté d’une pluralité de caméras, d’un moyen d’acquisition de caractéristiques qui acquiert, à partir de chaque image capturée, une direction normale qui est la caractéristique physique de la surface d’un objet devant être mesuré, d’un moyen de recherche de pixels correspondants qui recherche les pixels correspondants entre les images au moyen de la caractéristique physique, et d’un moyen de mesure qui mesure de façon tridimensionnelle l’objet sur la base d’une disparité entre les pixels correspondants. On dispose de préférence d’un moyen de transformation de coordonnées qui transforme la direction normale de chaque image en un système de coordonnées commun. Un paramètre pour la transformation des coordonnées peut être calculé à partir d’un paramètre obtenu dans l’étalonnage des caméras. L’appareil de mesure tridimensionnel est capable de mesurer précisément la forme tridimensionnelle d’un objet à surface miroir sans être influencé par les différences des positions et des caractéristiques des caméras.
(JA) 3次元計測装置は、複数のカメラと、撮影された画像のそれぞれから計測対象物の表面の物理特徴である法線の向きを取得する特徴取得手段と、この物理特徴を用いて画像間で対応する画素を探索する対応画素探索手段と、対応する画素間の視差に基づいて3次元測量を行う測量手段と、を備える。なお、各画像における法線の向きを共通の座標系に変換する座標変換手段を有することが好適である。この座標変換のパラメータはカメラキャリブレーションの際に得られるパラメータから算出することができる。このような3次元計測装置によれば、鏡面物体の3次元形状を精度良く、かつ、カメラの位置や特性の違いによる影響を受けずに測定できる。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)