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Pub. No.:    WO/2010/032628    International Application No.:    PCT/JP2009/065453
Publication Date: 25.03.2010 International Filing Date: 28.08.2009
G01N 35/02 (2006.01), G01N 35/04 (2006.01)
Applicants: HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION [JP/JP]; 24-14, Nishi Shinbashi 1-chome, Minato-ku, TOKYO 105-8717 (JP) (For All Designated States Except US).
TOKIEDA Hitoshi [JP/JP]; (JP) (For US Only).
TAKAGI Yoshimitsu [JP/JP]; (JP) (For US Only).
AKUTSU Masashi [JP/JP]; (JP) (For US Only).
SAGAWA Shotaro [JP/JP]; (JP) (For US Only)
Inventors: TOKIEDA Hitoshi; (JP).
TAKAGI Yoshimitsu; (JP).
AKUTSU Masashi; (JP).
SAGAWA Shotaro; (JP)
Agent: INOUE Manabu; C/O HITACHI, LTD. 6-1, Marunouchi 1-chome, Chiyoda-ku, TOKYO 100-8220 (JP)
Priority Data:
2008-235848 16.09.2008 JP
(JA) 自動分析装置、及び検体処理システム
Abstract: front page image
(EN)In a specimen processing system provided with one or more functional modules and buffer units combined with the respective functional modules as pairs, the buffer holds many specimen racks, so that, in the case of a halt of a device due to a failure, storing the racks by reset processing needs a significantly long period of time.  Further, in the case where a plurality of buffer units are provided by system configuration, the reset time is increased depending on the number of buffer units.  A specimen rack ID reading means is set at each buffer unit, the reading of IDs of the specimen racks in the buffer unit is carried out in the buffer unit in the case of the reset, and an inquiry about a conveyance destination of each specimen rack is made to a control unit based on the read-out information.  In accordance with an instruction of the conveyance destination from the control unit, the specimen processing is restarted from the buffer unit as the starting point.
(FR)Dans un système de traitement d’échantillons pourvu d’un ou plusieurs modules fonctionnels et d’unités tampons combinées aux modules fonctionnels respectifs sous forme de paires, le tampon soutient plusieurs casiers d’échantillons, de sorte que, dans le cas d’un arrêt d’un dispositif dû à une panne, le stockage des casiers par traitement de remise à l’état initial nécessite une période de temps significativement longue. En outre, dans le cas où une pluralité d’unités tampons sont fournies par la configuration du système, le temps de remise à l’état initial est augmenté en fonction du nombre d’unités tampons. Un moyen de lecture du numéro d’identification du casier d’échantillons est fixé sur chaque unité tampon, la lecture des numéros d’identification des casiers d’échantillons dans l’unité tampon est réalisée dans l’unité tampon dans le cas de la remise à l’état initial, et une enquête autour d’une destination de transport de chaque casier d’échantillons est réalisée vers une unité de commande sur la base des informations lues. Conformément à une instruction de la destination de transport provenant de l’unité de commande, le traitement d’échantillons est redémarré à partir de l’unité tampon comme point de départ.
(JA) 1台以上の機能モジュールと前記機能モジュールの各々と対で組み合わされるバッファユニットを有する検体処理システムにおいて、障害により装置が停止した場合、バッファ内に多数の検体ラックを保持していることにより、リセット処理によるラック収納に膨大な時間が必要となる。またシステム構成によるバッファユニットが複数ある場合には、バッファユニット数に依存してリセット時間が倍増してしまう。 各バッファユニットに検体ラックID読取り手段を設け、リセット時にバッファユニット内の検体ラックのID読取りをバッファユニット内で行い、読取った情報から制御部に対して各検体ラックの搬送先の問い合わせを行う。その後、制御部からの搬送先指示に基づき、バッファユニットを起点として検体の処理の再開を行う。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)