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1. (WO2010031904) TEST ADAPTER CONFIGURATION
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2010/031904    International Application No.:    PCT/FI2009/050746
Publication Date: 25.03.2010 International Filing Date: 17.09.2009
Chapter 2 Demand Filed:    06.07.2010    
IPC:
G01R 31/28 (2006.01), H04M 1/24 (2006.01)
Applicants: JOT AUTOMATION OY [FI/FI]; Paulaharjuntie 20 FI-90530 Oulu (FI) (For All Designated States Except US).
LEINO, Loit [EE/EE]; (EE) (For US Only).
EIKO, Priidel [EE/EE]; (EE) (For US Only).
KERNER, Madis [EE/EE]; (EE) (For US Only)
Inventors: LEINO, Loit; (EE).
EIKO, Priidel; (EE).
KERNER, Madis; (EE)
Agent: KOLSTER OY AB; P.O. Box 148 Iso Roobertinkatu 23 FI-00121 Helsinki (FI)
Priority Data:
20085881 18.09.2008 FI
Title (EN) TEST ADAPTER CONFIGURATION
(FR) CONFIGURATION D'ADAPTATEUR DE TEST
Abstract: front page image
(EN)The invention provides a base plate for a test adapter for use in testing devices in a production line. The base plate comprises a first interface configured to connect to a product-specific part (4) configured to receive and test a specific type of device under test, and a second interface configured to connect to a common part (3) comprising testing elements common to various devices under test. The base plate (1) is a printed wiring board arranged to couple signals from the common part (3) to the device under test.
(FR)L'invention porte sur une plaque de base pour un adaptateur de test pour une utilisation dans des dispositifs de test dans une chaîne de production. La plaque de base comprend une première interface configurée pour se connecter à une partie (4) spécifique d'un produit et configurée pour recevoir et tester un type spécifique de dispositif à tester, et une seconde interface configurée pour se connecter à une partie commune (3) comprenant des éléments de test communs à divers dispositifs à tester. La plaque de base (1) est une carte de câblage imprimée conçue pour coupler des signaux provenant de la partie commune (3) au dispositif à tester.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)