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1. (WO2010030449) METHOD AND APPARATUS FOR MERGING EDA COVERAGE LOGS OF COVERAGE DATA
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2010/030449    International Application No.:    PCT/US2009/052352
Publication Date: 18.03.2010 International Filing Date: 31.07.2009
IPC:
G06F 19/00 (2006.01), G06F 17/50 (2006.01)
Applicants: SYNOPSYS, INC. [US/US]; 700 E. Middlefield Road Mountain View, CA 94043 (US) (For All Designated States Except US).
BIST, Manoj [IN/US]; (US) (For US Only).
MEHROTRA, Sandeep [IN/US]; (US) (For US Only)
Inventors: BIST, Manoj; (US).
MEHROTRA, Sandeep; (US)
Agent: SUZUE, Kenta; (US)
Priority Data:
12/210,876 15.09.2008 US
Title (EN) METHOD AND APPARATUS FOR MERGING EDA COVERAGE LOGS OF COVERAGE DATA
(FR) PROCÉDÉ ET APPAREIL PERMETTANT DE FUSIONNER DES JOURNAUX DE COUVERTURE EDA CONTENANT DES DONNÉES DE COUVERTURE
Abstract: front page image
(EN)An electronic design automation technology merges coverage logs. The coverage logs are generated by verification of a hardware description language circuit design. The coverage logs are merged as the coverage logs are generated, without waiting for all pending coverage logs. Another electronic design automation technology also merges coverage logs. The merged coverage logs include a first coverage log of a first simulation of a hardware description language circuit design and a second coverage log of a second simulation of the hardware description language circuit design. The first simulation is based on a first hardware verification language coverage model of the hardware description language circuit design. The second simulation is based on a second hardware verification language coverage model of the hardware description language circuit design. The second hardware verification language coverage model is newer and different than the first hardware verification language coverage model.
(FR)Une technologie de conception assistée par ordinateur permet de fusionner des journaux de couverture. Les journaux de couverture sont générés par la vérification d'une conception de circuit de langage de description de matériel. Les journaux de couverture sont fusionnés au moment de leur création sans attendre que tous les journaux de couverture soient prêts. Une autre technologie de conception assistée par ordinateur permet de fusionner des journaux de couverture. Les journaux de couverture fusionnés comprennent un premier journal de couverture d'une première simulation d'une conception de circuit de langage de description de matériel et un second journal de couverture d'une seconde simulation de la conception de circuit de langage de description de matériel. La première simulation est basée sur un premier modèle de couverture de langage de vérification de matériel de la conception de circuit de langage de description de matériel. La seconde simulation est basée sur un second modèle de couverture de langage de vérification de matériel de la conception de circuit de langage de description de matériel. Le second modèle de couverture de langage de vérification de matériel est plus récent que le premier modèle de couverture de langage de vérification de matériel et il est différent de celui-ci.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)