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1. (WO2010029858) MEASURING DEVICE AND MEASURING METHOD FOR THRESHOLD OF FLICKER
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2010/029858    International Application No.:    PCT/JP2009/064984
Publication Date: 18.03.2010 International Filing Date: 27.08.2009
IPC:
A61B 5/16 (2006.01)
Applicants: NATIONAL INSTITUTE OF ADVANCED INDUSTRIAL SCIENCE AND TECHNOLOGY [JP/JP]; 3-1, Kasumigaseki 1-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1008921 (JP) (For All Designated States Except US).
HARADA, Nobuyoshi [JP/JP]; (JP) (For US Only).
IWAKI, Sunao [JP/JP]; (JP) (For US Only)
Inventors: HARADA, Nobuyoshi; (JP).
IWAKI, Sunao; (JP)
Agent: SAEGUSA & PARTNERS; Kitahama TNK Building 1-7-1, Doshomachi Chuo-ku, Osaka-shi Osaka 5410045 (JP)
Priority Data:
2008-231630 10.09.2008 JP
2009-043625 26.02.2009 JP
Title (EN) MEASURING DEVICE AND MEASURING METHOD FOR THRESHOLD OF FLICKER
(FR) DISPOSITIF DE MESURE ET PROCÉDÉ DE MESURE DU SEUIL DE PAPILLOTEMENT
(JA) ちらつきの閾値の測定装置及び測定方法
Abstract: front page image
(EN)A measuring device comprises an arithmetic processing section (1), a display section (8) having a fixed refresh rate, and an operating section (9), wherein the arithmetic processing section (1) displays an image on the display section (8) in an on/off manner, changes a display timing by monotonously, increasing or decreasing the number of OFF-periods in one second, and increases or decreases monotonously at least one of the number of OFF-pixels in an image, the size of an image, or the contrast of OFF-pixels during a period where the timing is not changed.  If the operating section (9) is operated when the OFF-period is a reciprocal of a fresh rate and a subject (10) begins to recognize a flicker or no longer recognizes a flicker, the arithmetic processing section (1) determines the number of OFF-periods at that moment in time as the threshold of a flicker.  The measuring device can measure the threshold of a flicker under wide-range conditions using a display device having a fixed refresh rate (vertical synchronization frequency), and can be used for evaluation of fatigue.
(FR)La présente invention concerne un dispositif de mesure qui comprend une section de traitement arithmétique (1), une section d’affichage (8) ayant une fréquence de rafraîchissement fixe, et une section de commande (9) la section de traitement arithmétique (1) affichant une image sur la section d’affichage (8) d’une manière on/off, changeant une synchronisation d’affichage en augmentant ou diminuant de manière monotone le nombre de périodes OFF par seconde, et augmentant ou diminuant de manière monotone au moins l’un du nombre de pixels OFF sur une image, de la taille d’une image, ou du contraste de pixels OFF au cours d’une période pendant laquelle la synchronisation n’est pas modifiée. Si la section de commande (9) est manœuvrée lorsque la période OFF est une réciproque d’une fréquence de rafraîchissement et un sujet (10) commence à reconnaître un papillotement ou ne reconnaît plus un papillotement, la section de traitement arithmétique (1) détermine le nombre de périodes OFF à ce moment dans le temps comme le seuil d’un papillotement. Le dispositif de mesure peut mesurer le seuil d’un papillotement dans une vaste plage de conditions à l’aide d’un dispositif d’affichage ayant un taux de rafraîchissement fixe (fréquence de synchronisation verticale), et peut être utilisé pour l’évaluation de la fatigue.
(JA) 測定装置は、演算処理部1、リフレッシュレート固定の表示部8、および操作部9を備え、演算処理部1が、表示部8に画像をON/OFF表示し、演算処理部1が、1秒間におけるOFF期間の数を単調に増加または減少させて表示タイミングを変更し、演算処理部1が、タイミングが変更されない期間において、画像中のOFF画素の数、画像の大きさ、OFF画素のコントラストの少なくとも何れか1つを単調に増加または減少させ、OFF期間がリフレッシュレートの逆数であり、被験者10がちらつきを知覚し始めたとき、または、ちらつきを知覚しなくなったときに、操作部9が操作された場合、演算処理部1が、その時点のOFF期間の数をちらつきの閾値として決定する。本測定装置は、リフレッシュレート(垂直同期周波数)が固定された表示装置を用いて、広範囲の条件でちらつきの閾値を測定でき、疲労評価に利用可能である。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)