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1. (WO2010027753) ENGINEERING LIGHT MANIPULATION IN STRUCTURED FILMS OR COATINGS
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2010/027753    International Application No.:    PCT/US2009/054818
Publication Date: 11.03.2010 International Filing Date: 25.08.2009
IPC:
B05D 5/00 (2006.01), B05D 7/00 (2006.01), B82B 3/00 (2006.01), A61K 8/97 (2006.01), A61Q 5/00 (2006.01), A61Q 19/02 (2006.01)
Applicants: DEFRIES, Anthony [GB/US]; (US).
BRONGERSMA, Mark [NL/US]; (US)
Inventors: DEFRIES, Anthony; (US).
BRONGERSMA, Mark; (US)
Common
Representative:
DEFRIES, Anthony; 149 South Barrington Ave. #757 Los Angeles, CA 90049 (US)
Priority Data:
61/094,331 04.09.2008 US
61/091,997 26.08.2008 US
Title (EN) ENGINEERING LIGHT MANIPULATION IN STRUCTURED FILMS OR COATINGS
(FR) CONTRÔLE DE LA MANIPULATION DE LA LUMIÈRE DANS DES FILMS OU REVÊTEMENTS STRUCTURÉS
Abstract: front page image
(EN)The present disclosure concerns a means to use light manipulation in engineered or structured coatings for thermal or photothermal effects and/or refractive and reflective index management. Such metallic, nonmetallic, organic or inorganic metamaterials or nanostructures could be used to manipulate light or energy for thermal or photothermal effects and/or refractive and reflective index management on or in any material or substrate on or in any material or substrate. The light scattering properties of metallic particles and film can be used to tune such coatings, structures or films over a broad spectrum.
(FR)La présente invention concerne un moyen d'utilisation d'une manipulation de lumière dans des revêtements structurés ou contrôlés en vue d'obtenir des effets thermiques ou photothermiques et/ou de gérer l'indice de réfraction ou l'indice de réflexion. Ces métamatériaux ou nanostructures métalliques, non métalliques, organiques ou inorganiques peuvent être utilisés pour manipuler la lumière ou l'énergie en vue d'obtenir des effets thermiques ou photothermiques et/ou de gérer l'indice de réfraction ou l'indice de réflexion sur ou dans tout matériau ou substrat. Les propriétés de diffusion de la lumière de particules métalliques et de films peuvent être utilisées pour régler sur un large spectre ces revêtements, ces structures ou ces films.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)