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1. (WO2010025715) METHOD FOR PRECISELY DETERMINING THE FLUORESCENCE IN A LAYER SYSTEM, SUCH AS THE EYE
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2010/025715    International Application No.:    PCT/DE2009/001249
Publication Date: 11.03.2010 International Filing Date: 03.09.2009
IPC:
G01N 21/64 (2006.01), G01N 33/58 (2006.01)
Applicants: HEIDELBERG ENGINEERING GMBH [DE/DE]; Tiergartenstrasse 15 69121 Heidelberg (DE) (For All Designated States Except US).
SCHWEITZER, Dietrich [DE/DE]; (DE) (For US Only)
Inventors: SCHWEITZER, Dietrich; (DE)
Agent: BIEBER, Björn; Patent- und Rechtsanwaltskanzlei Bock Bieber Donath Hans-Knöll-Straße 1 07745 Jena (DE)
Priority Data:
10 2008 045 886.4 03.09.2008 DE
Title (DE) VERFAHREN ZUR EXAKTEN BESTIMMUNG DER FLUORESZENZ IN EINEM SCHICHTSYSTEM, BEISPIELSWEISE DEM AUGE
(EN) METHOD FOR PRECISELY DETERMINING THE FLUORESCENCE IN A LAYER SYSTEM, SUCH AS THE EYE
(FR) PROCÉDÉ PERMETTANT LA DÉTERMINATION EXACTE DE LA FLUORESCENCE DANS UN SYSTÈME STRATIFIÉ, TEL QUE L'OEIL PAR EXEMPLE
Abstract: front page image
(DE)Verfahren zur exakten Bestimmung der Fluoreszenz in einem Schichtsystem, beispielsweise dem Auge. Aufgabe war es, ein möglichst einfaches und aufwandgeringes Verfahren zur Auswertung der Fluoreszenz in einem Schichtsystem zu schaffen, mit dem das summarische Abklingverhalten der Fluoreszenz sehr exakt ausgewertet werden kann und mit dem gleichzeitig auf die Entstehungsorte der einzelnen Fluoreszenzen des Schichtsystems geschlossen werden kann. Erfindungsgemäß werden jeweils die Entstehungszeitpunkte (tci) der Fluoreszenzen in den einzelnen Schichten des Schichtsystems bestimmt, indem für die betreffenden Fluoreszenzen schichtspezifische zeitabhängige Parameter ermittelt werden, die jeweils den zeitlichen Beginn der Fluoreszenz in der betreffenden Schicht angeben und in der Modellfunktion zur Berechnung des summarischen Abklingverhaltens der Fluoreszenz berücksichtigt werden. Anwendungsgebiete ergeben sich bei der Untersuchung von Objekten mit Schichtstrukturen beispielsweise in der Biologie, in der Medizin und in der Fertigungstechnik.
(EN)The invention relates to a method for precisely determining the fluorescence in a layer system, such as the eye. The object of the invention is to provide a method that is as simple and requires as little effort as possible for evaluating the fluorescence in a layer system, by means of which the summary decay behavior of the fluorescence can be evaluated very precisely, and by means of which the points of origin of the individual fluorescences of the layer system can be determined at the same time. According to the invention, the time of origin (tci) of each fluorescence in the individual layers of the layer system are determined in that layer-specific, time-dependent parameters are determined for the relevant fluorescences, said parameters each indicating the time of origin of the fluorescence in the relevant layer, and said parameters being considered in the model function for calculating the summary decay behavior of the fluorescence. Areas of application are found in the analysis of objects having layer structures, such as in biology, in medicine, and in production engineering.
(FR)L'invention concerne un procédé permettant la détermination exacte de la fluorescence dans un système stratifié, tel que l'oeil par exemple. L'invention a pour but de fournir un procédé aussi simple que possible et n'exigeant qu'une faible dépense de moyens, pour l'évaluation de la fluorescence dans un système stratifié, procédé au moyen duquel l'affaiblissement global de la fluorescence peut être évalué très exactement, et permettant en même temps d'aboutir à des conclusions quant au mode de formation des fluorescences individuelles du système stratifié. L'invention est caractérisée en conséquence en ce qu'on détermine chacun des instants de formation (tCi) des fluorescences dans les couches individuelles du système stratifié, en mesurant, pour les fluorescences considérées, les paramètres fonction du temps, spécifiques d'une strate, lesquels indiquent, respectivement le début de la fluorescence dans la strate considérée, et qui sont à prendre en considération dans la fonction de référence servant au calcul de l'affaiblissement global de la fluorescence. Les domaines d'application concernent l'analyse des objets présentant des structures stratifiées, par exemple en biologie, en médecine et en technique de production.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: German (DE)
Filing Language: German (DE)