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1. (WO2010024397) RAMAN SCATTERING MEASUREMENT DEVICE
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2010/024397    International Application No.:    PCT/JP2009/065090
Publication Date: 04.03.2010 International Filing Date: 28.08.2009
IPC:
G01N 21/65 (2006.01)
Applicants: RIKEN [JP/JP]; 2-1, Hirosawa, Wako-shi, Saitama 3510198 (JP) (For All Designated States Except US).
MACHIDA ENDOSCOPE CO., LTD. [JP/JP]; 13-8, Honkomagome 6-chome, Bunkyo-ku, Tokyo 1130021 (JP) (For All Designated States Except US).
KOMACHI, Yuichi [JP/JP]; (JP) (For US Only).
MARUYAMA, Atsushi [JP/JP]; (JP) (For US Only).
KANAI, Genichi [JP/JP]; (JP) (For US Only).
SATO, Hidetoshi [JP/JP]; (JP) (For US Only)
Inventors: KOMACHI, Yuichi; (JP).
MARUYAMA, Atsushi; (JP).
KANAI, Genichi; (JP).
SATO, Hidetoshi; (JP)
Agent: KAWAGUCHI, Yoshiyuki; (JP)
Priority Data:
2008-219347 28.08.2008 JP
Title (EN) RAMAN SCATTERING MEASUREMENT DEVICE
(FR) DISPOSITIF DE MESURE DE LA DIFFRACTION DE RAMAN
(JA) ラマン散乱測定装置
Abstract: front page image
(EN)In an endoscope system, to which Raman probe (3) is applied, a xenon lamp light source (5), i.e., a light source used for observation illumination is provided with an infrared cut filter (13) for cutting light with an exciting wavelength or more and a pre-filter (2a) of a Raman spectroscope (2) is provided with a short wavelength cut filter (12) for cutting light with a length corresponding to high order (secondary) diffraction light of a transmission type diffraction grating (2b) in addition to an edge filter (11) for cutting Rayleigh scattering light.  Thus, Raman measurement can be carried out with a measuring portion observed by the application of white light.
(FR)Dans un système d’endoscope, auquel une sonde de Raman (3) est appliquée, une source de lumière de lampe au xénon (5), c'est-à-dire une source de lumière utilisée pour l’éclairage d’observation, est dotée d’un filtre de blocage infrarouge (13) destiné à bloquer la lumière avec une ou plusieurs longueurs d’onde d’excitation, et un préfiltre (2a) d’un spectroscope de Raman (2) est doté d’un filtre de blocage de longueur d’onde courte (12) destiné à bloquer la lumière avec une longueur correspondant à une lumière de diffraction d’ordre élevé (secondaire) d’un réseau de diffraction de type à transmission (2b), outre un filtre de limite (11) destiné à bloquer la lumière de diffusion Rayleigh. Ainsi, la mesure de Raman peut être réalisée avec une partie de mesure observée par l’application de lumière blanche.
(JA) ラマンプローブ3を適用した内視鏡システムにおいて、観察用照明の光源であるキセノンランプ光源5に励起波長以上をカットする赤外カットフィルタ13を設け、ラマン分光器2のプレフィルタ2aに、レイリー散乱光をカットするエッジフィルタ11に加えて、透過型回折格子2bの高次(2次)回折光に相当する波長の光を遮断する短波長カットフィルタ12を設けた。これにより、白色光によって測定部位を観察しつつラマン測定を行える。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)