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1. (WO2010023924) INTERCONNECT CIRCUIT BOARD, SKEW MEASURING METHOD AND TESTING DEVICE
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2010/023924    International Application No.:    PCT/JP2009/004177
Publication Date: 04.03.2010 International Filing Date: 27.08.2009
IPC:
G01R 31/28 (2006.01), G01R 35/00 (2006.01)
Applicants: ADVANTEST CORPORATION [JP/JP]; 1-32-1, Asahi-cho, Nerima-ku, Tokyo 1790071 (JP) (For All Designated States Except US).
TAKIZAWA, Shigeki [JP/JP]; (JP) (For US Only)
Inventors: TAKIZAWA, Shigeki; (JP)
Agent: RYUKA IP Law Firm; 5F, Shinjuku Square Tower, 22-1, Nishi-Shinjuku 6-chome, Shinjuku-ku, Tokyo 1631105 (JP)
Priority Data:
12/199,811 28.08.2008 US
Title (EN) INTERCONNECT CIRCUIT BOARD, SKEW MEASURING METHOD AND TESTING DEVICE
(FR) CIRCUIT IMPRIMÉ D’INTERCONNEXION, PROCÉDÉ DE MESURE DE DIFFÉRENCE DE TEMPS DE PROPAGATION ET DISPOSITIF DE TEST
(JA) 相互接続基板、スキュー測定方法および試験装置
Abstract: front page image
(EN)Disclosed is a circuit board used to measure skew between output pins in a testing device that applies a test signal that includes a first signal and a second signal to a device under test and tests the device under test. The circuit board is provided with a first terminal connected to a first output pin for outputting a first signal, a second terminal connected to a second output pin for outputting a second signal, a confluence node connected to both the first terminal and the second terminal, an output node connected to a timing measurement circuit that measures the transition timing of the signals that are input, a first wire that connects the first terminal and the confluence node, a second wire that connects the second terminal and the confluence node, and a third wire that connects the confluence node and the output node. The first wire and the second wire are formed equal in length.
(FR)L’invention concerne un circuit imprimé utilisé pour mesurer la différence de temps de propagation entre les broches de sortie du dispositif de test servant à tester l’appareil de test grâce à l’émission d’un signal de test comprenant un premier et un second signal envers l’appareil de test susmentionné; ce circuit imprimé est équipé d’un premier terminal fixé sur une première broche de sortie qui doit émettre le premier signal, d’un deuxième terminal fixé sur une deuxième broche de sortie qui doit émettre le deuxième signal, d’un nœud de connexion raccordé au premier terminal et au deuxième terminal, d’un nœud de sortie connecté au circuit de mesure de temps, qui mesure le temps de transit du signal entré; d’un premier câblage raccordé entre le premier terminal et le nœud de connexion, d’un deuxième câblage raccordé entre le deuxième terminal et le nœud de connexion, et d’un troisième câblage connecté entre le nœud de connexion et le nœud de sortie. Le premier et le deuxième câblages sont formés de sorte à être de longueur identique.
(JA) 第1信号および第2信号を含む試験信号を被試験デバイスに与えて被試験デバイスを試験する試験装置における出力ピンの間のスキュー測定に用いられる配線基板であって、第1信号を出力すべき第1出力ピンに結合される第1端子と、第2信号を出力すべき第2出力ピンに結合される第2端子と、第1端子および第2端子の双方に接続される結束ノードと、入力される信号の遷移タイミングを計測するタイミング計測回路に接続される出力ノードと、第1端子および結束ノードの間を接続する第1配線と、第2端子および結束ノードの間を接続する第2配線と、結束ノードおよび出力ノードの間を接続する第3配線とを備え、第1配線および第2配線が等しい長さに形成される。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)