WIPO logo
Mobile | Deutsch | Español | Français | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Search International and National Patent Collections
World Intellectual Property Organization
Search
 
Browse
 
Translate
 
Options
 
News
 
Login
 
Help
 
Machine translation
1. (WO2010022670) CURVED SURFACE MEASURING DEVICE AND MEASURING METHOD THEREOF
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2010/022670    International Application No.:    PCT/CN2009/073602
Publication Date: 04.03.2010 International Filing Date: 28.08.2009
IPC:
G01B 11/24 (2006.01)
Applicants: CHAK, Wingtung [CN/CN]; (CN)
Inventors: CHAK, Wingtung; (CN)
Agent: SCIHEAD PATENT AGENT CO., LTD; Room 1508,Huihua Commercial & Trade Building,No.80 Xianliezhong Road, Yuexiu Guangzhou, Guangdong 510070 (CN)
Priority Data:
200810198158.9 29.08.2008 CN
Title (EN) CURVED SURFACE MEASURING DEVICE AND MEASURING METHOD THEREOF
(FR) DISPOSITIF DE MESURE D’UNE SURFACE INCURVÉE ET SON PROCÉDÉ DE MESURE
(ZH) 曲面测量装置和测量方法
Abstract: front page image
(EN)A curved surface measuring device and a measuring method thereof. The measuring device comprises a dragline (1) and a camera device (3), wherein the dragline (1) is tightly stretched on the surface of an object (2) to be measured and coincides with the profile curve of the object (2) to be measured; the measuring method includes the following steps: step one, a parameter set of the measuring device is determined; step two, the dragline (1) is tightly stretched on the surface of the object (2) to be measured; step three, a picture of the dragline (1) is taken and the image is input into a computer; step four, the image of the dragline (1) is analyzed and curvilinear coordinate data of the centerline of the dragline (1) are calculated; and step five, the centerline of the dragline (1) is processed by equidistant offset calculation towards one side of the object (2) to be measured while the offset amount is equal to the semidiameter of the dragline (1) and then a curve is obtained, namely the profile curve of the corresponding position of the object (2) to be measured. By utilizing a certain amount of the draglines (1), the curved surface data of the object (2) to be measured is obtained.
(FR)La présente invention concerne un dispositif de mesure d’une surface incurvée et son procédé de mesure. Le dispositif de mesure comprend un câble porteur (1) et un dispositif à caméra (3), le câble porteur (1) étant étroitement étiré sur la surface d’un objet (2) devant être mesuré et coïncidant avec la courbe du profil de l’objet (2) devant être mesuré. Le procédé de mesure comprend les étapes suivantes : étape un, un ensemble de paramètres du dispositif de mesure est déterminé; étape deux, le câble porteur (1) est étroitement étiré sur la surface de l’objet (2) devant être mesuré; étape trois, une image du câble porteur (1) est prise et l’image est entrée dans un ordinateur; étape quatre, l’image du câble porteur (1) est analysée et des données de coordonnées curvilignes de la ligne centrale du câble porteur (1) sont calculées; et étape cinq, la ligne centrale du câble porteur (1) est traitée par un calcul de décalage équidistant vers un côté de l’objet (2) devant être mesuré pendant que la quantité du décalage est égale au demi-diamètre du câble porteur (1), puis une courbe est obtenue, à savoir, la courbe du profil de la position correspondante de l’objet (2) devant être mesuré. Par l’utilisation d’une certaine quantité des câbles porteurs (1), les données de surface incurvée de l’objet (2) devant être mesuré sont obtenues.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Chinese (ZH)
Filing Language: Chinese (ZH)