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1. (WO2009143197) CIRCUIT TESTING CLOSER APPARATUS AND METHOD WITH DYNAMIC TEST THRESHOLDS
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2009/143197    International Application No.:    PCT/US2009/044588
Publication Date: 26.11.2009 International Filing Date: 20.05.2009
IPC:
H02H 3/06 (2006.01), H01H 75/04 (2006.01)
Applicants: S&C ELECTRIC COMPANY [US/US]; 6601 North Ridge Boulevard Chicago, IL 60626-3997 (US) (For All Designated States Except US).
MONTENEGRO, Alejandro [US/US]; (US) (For US Only).
O'LEARY, Raymond, P. [US/US]; (US) (For US Only)
Inventors: MONTENEGRO, Alejandro; (US).
O'LEARY, Raymond, P.; (US)
Agent: SITKO, Anthony, G.; (US)
Priority Data:
61/054,781 20.05.2008 US
Title (EN) CIRCUIT TESTING CLOSER APPARATUS AND METHOD WITH DYNAMIC TEST THRESHOLDS
(FR) APPAREIL ET PROCÉDÉ DE FERMETURE POUR TEST DE CIRCUIT UTILISANT DES SEUILS DE TEST DYNAMIQUES
Abstract: front page image
(EN)A circuit testing closer is capable of closing a power distribution circuit and interrupting the resulting current at the next current zero. Upon detecting a fault, the circuit testing closer is operable to open contacts to isolate the fault. Next, the circuit testing closer tests the faulted line to determine whether the fault has cleared. The circuit testing closer may employ one or more dynamic thresholds to determine the existence of a fault.
(FR)Appareil de fermeture pour test de circuit, susceptible de fermer un circuit de distribution de courant et d’interrompre le courant résultant au zéro de courant suivant. Lors de la détection d’un défaut, l’appareil de fermeture pour test de circuit est conçu pour ouvrir des contacts afin d’isoler le défaut puis pour tester la ligne défaillante dans le but de déterminer si le défaut a disparu. L’appareil de fermeture pour test de circuit peut faire appel à un ou plusieurs seuils dynamiques pour déterminer la présence d’un défaut.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)