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1. (WO2009142166) X-RAY DIAGNOSTIC APPARATUS
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2009/142166    International Application No.:    PCT/JP2009/059117
Publication Date: 26.11.2009 International Filing Date: 18.05.2009
IPC:
A61B 6/10 (2006.01), A61B 6/00 (2006.01)
Applicants: HITACHI MEDICAL CORPORATION [JP/JP]; 4-14-1, Soto-kanda, Chiyoda-ku, Tokyo 1010021 (JP) (For All Designated States Except US).
ODA.Yuji [JP/JP]; (JP) (For US Only)
Inventors: ODA.Yuji; (JP)
Priority Data:
2008-134554 22.05.2008 JP
Title (EN) X-RAY DIAGNOSTIC APPARATUS
(FR) APPAREIL DE DIAGNOSTIC À RAYONS X
(JA) X線診断装置
Abstract: front page image
(EN)An X-ray diagnostic apparatus which is provided with an X-ray source for X-ray irradiation and an X-ray detector arranged facing the X-ray source for detecting the X-rays passing through an examinee and outputting the same as image data.  The apparatus is provided with a histogram creation means which creates the histogram of the pixel value of the image data outputted from the X-ray detector; a direct X-ray dose calculation means which calculates, on the basis of the irradiation X-ray dose of the X-ray source and the distance from the X-ray source to the X-ray detector which are regulated by X-ray irradiation conditions, a pixel value corresponding to a direct X-ray dose to be detected by the X-ray detector; an examinee image area calculation means which calculates the area of an examinee area occupying the image data, on the basis of the histogram created by the histogram creation means and the pixel value calculated by the direct X-ray dose calculation means; and an area dose calculation means which calculates the exposure area dose of the examinee on the basis of the irradiation X-ray dose, the area of the examinee image area, and the distance from the X-ray source to the X-ray detector.
(FR)La présente invention concerne un appareil de diagnostic à rayons X qui est muni d’une source de rayons X pour une exposition aux rayons X et d’un détecteur de rayons X disposé en face de la source de rayons X pour détecter les rayons X passant à travers un patient et les délivrer sous forme de données d’image. L’appareil est doté d’un moyen de création d’histogrammes qui créé l’histogramme de la valeur du pixel des données d’image délivrées par le détecteur de rayons X; d’un moyen de calcul de la dose de rayons X qui calcule, sur la base de la dose de rayons X d’exposition de la source de rayons X et de la distance entre la source de rayons X et le détecteur de rayons X qui sont régulées par les conditions d’exposition aux rayons X, une valeur de pixel correspondant à une dose de rayons X directe devant être détectée par le détecteur de rayons X; d’un moyen de calcul de la zone d’image du patient qui calcule la région d’une zone du patient occupant les données d’image, sur la base de l’histogramme créé par le moyen de création d’histogrammes et de la valeur de pixel calculée par le moyen de calcul de la dose de rayons X directs; et d’un moyen de calcul de la dose de la zone qui calcule la dose de la zone d’exposition du patient sur la base de la dose de rayons X d’exposition, de la région de la zone d’image du patient, et de la distance entre la source de rayons X et le détecteur de rayons X.
(JA) X線を照射するX線源と、このX線源と対向して配置され、被検体の透過X線を検出して画像データとして出力するX線検出器とを備えるX線診断装置であって、  前記X線検出器から出力される画像データにおける画素値のヒストグラムを作成するヒストグラム作成手段と、X線の照射条件で規定されるX線源の照射X線量及び前記X線源から前記X線検出器までの距離に基づいて、前記X線検出器で検出されるべき直接X線量に対応する画素値を計算する直接X線量計算手段と、前記ヒストグラム作成手段によって作成されたヒストグラム及び前記直接X線量計算手段によって計算された画素値に基づいて、画像データ中に占める被検体領域の面積を算出する被検体画像面積算出手段と、前記照射X線量、前記被検体画像領域の面積、及び前記X線源からX線検出器までの距離に基づいて、被検体の被曝面積線量を演算する面積線量演算手段を備える。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)